[发明专利]用于支持协议无关器件测试系统中协议重新配置的基于云的基础设施

说明书

提供了一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括：使用图形用户界面(GUI)获取用于编程可编程测试仪模块的协议选择。该方法还包括：通过网络从远程计算机访问与协议相关联的配置文件。随后，该方法包括：利用应用于至少一个被测器件(DUT)的使用该配置文件的通信协议来配置可编程测试仪模块。最后，该方法包括：向可编程测试仪模块发送用于执行程序流程的指令，其中程序流程包括用于测试至少一个DUT的测试序列；以及从可编程测试仪模块接收这些测试的结果。

技术领域

本公开一般涉及自动测试设备的领域，并且更具体地，涉及控制此类设备的技术。

背景技术

自动测试设备(ATE)可以是对半导体片或管芯、集成电路(IC)、电路板或诸如固态驱动器之类的封装器件执行测试的任何测试组件。ATE组件可用于执行快速执行测量并生成随后可被分析的测试结果的自动测试。ATE组件可以是来自耦接至仪表、复杂的自动测试组件的计算机系统的任何东西，复杂的自动测试组件可包括定制的专用计算机控制系统以及能够自动测试电子零件和/或进行半导体片测试(例如，片上系统(SOC)测试或集成电路测试)的许多不同测试器具。ATE系统既减少测试器件所花费的时间量以确保器件如设计那样起作用，又用作诊断工具以在给定器件到达客户之前确定给定器件内故障部件的存在。

当典型ATE系统测试某器件(通常称为被测器件或DUT)时，ATE系统向该器件施加刺激(例如，电信号)并检查器件的响应(例如，电流和电压)。典型地，测试的最终结果是：“合格”，如果器件成功地提供了在预先建立的容差内的某些预期响应；或“不合格”，如果器件未提供在预先建立的容差内的预期响应。更尖端ATE系统能够评估不合格器件以潜在地确定不合格的一个或多个原因。

ATE系统通常包括指导ATE系统操作的计算机。典型地，计算机运行一个或多个专用软件程序以提供(i)测试开发环境和(ii)器件测试环境。在测试开发环境中，用户典型地创建测试程序，即基于软件构建控制ATE系统的各个部分的一个或多个文件。在器件测试环境中，用户典型地向ATE系统提供一个或多个器件以进行测试，并指导ATE系统根据测试程序测试每个器件。用户可通过简单地向ATE系统提供另外的器件并指导ATE系统根据测试程序测试另外的器件来测试另外的器件。因此，ATE系统使得用户能够基于测试程序以一致且自动的方式测试许多器件。

图1是用于测试某种典型DUT(例如，诸如DRAM之类的半导体存储器器件)的常规自动测试设备主体111的示意框图，常规自动测试设备主体111由通过通信总线102与ATE仪器111通信的系统控制器101控制。系统控制器101运行提供测试开发环境和器件测试环境以便运行用户的测试所需的软件程序。

ATE主体111包括硬件总线适配器卡座108A-108N。特定通信协议(例如PCIe、USB、SAS、SATA等)所特定的硬件总线适配器卡连接至设置在ATE主体上的硬件总线适配器卡座108A-108N并且通过相应协议所特定的缆线与DUT 109A-109N接口接合。ATE主体111还包括具有相关联存储器105的测试仪处理器101，以控制内置于ATE主体111中的硬件部件并生成通过硬件总线适配器卡与正被测试的DUT通信所必需的命令和数据。测试仪处理器101通过系统总线106与硬件总线适配器卡通信。

ATE主体111测试通过插接到ATE主体的硬件总线适配器卡座的硬件总线适配器而连接至ATE主体111的DUT 109A-109N的电子功能。因此，测试仪处理器101被编程以使用对于硬件总线适配器唯一的协议将需要运行的测试程序传达至DUT。