[发明专利]致密氟聚合物薄膜有效
申请号: | 201380073651.7 | 申请日: | 2013-12-17 |
公开(公告)号: | CN105073839B | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | J.A.阿布斯勒梅;C.哈蒙;G.卡尼;M.米伦达 | 申请(专利权)人: | 索尔维特殊聚合物意大利有限公司 |
主分类号: | C08G81/02 | 分类号: | C08G81/02;C08F214/24;C08J5/18;C08L27/16;C08L71/02;H01M2/16;H01M10/052;H01M10/0565;C08F214/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周李军;徐厚才 |
地址: | 意大*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 致密 聚合物 薄膜 | ||
1.一种用于制造致密薄膜的方法,所述方法包括以下步骤或由以下步骤组成:
(a)提供固体组合物[组合物(C)],该固体组合物包含以下各项或由以下各项组成:
-至少一种包含一个或多个羧酸官能端基的偏二氟乙烯(VDF)氟聚合物[聚合物(F)],其中该聚合物(F)包含衍生自以下各项的重复单元:偏二氟乙烯(VDF),至少一种包含一个或多个羧酸官能端基的氢化单体[单体(H)],以及任选地,一种或多种不同于VDF的氟化单体,
-至少一种具有式(I)的聚(氧化烯)(PAO):
HO-(CH2CHRAO)n-RB(I)
其中RA是氢原子或C1-C5烷基,RB是氢原子或-CH3烷基并且n是包括在2000与40000之间的整数,其中该具有式(I)的PAO具有包括在100000与1800000之间的平均分子量,以及
-任选地,至少一种无机填充剂[填充剂(I)];
其中该组合物(C)包含相对于组合物(C)总体积按体积计20%至95%的所述至少一种聚合物(F)以及按体积计5%至80%的所述至少一种具有式(I)的PAO,并且
(b)在熔融相中处理所述组合物(C),由此提供具有从5μm至30μm的厚度和相对于所述薄膜的总体积小于5体积%的孔隙率的致密薄膜。
2.根据权利要求1所述的方法,其中该具有式(I)的PAO是符合式(I-A)的聚(氧化乙烯)(PEO):
HO-(CH2CH2O)n-CH3(I-A)。
3.根据权利要求1所述的方法,其中该单体(H)是具有式(II)的(甲基)丙烯酸单体[单体(MA)]:
其中:
-R1、R2和R3,彼此相同或不同,独立地选自氢原子和C1-C3烃基,并且
-Rx是氢原子或包含至少一个羧酸官能端基的C1-C5烃基。
4.根据权利要求3所述的方法,其中该单体(MA)是丙烯酸(AA)。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其中该具有式(I)的PAO具有包括在500000与1500000之间的平均分子量。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其中n是包括在4000与35000之间的整数。
7.根据权利要求1或2所述的方法,其中n是包括在11500与30000之间的整数。
8.根据权利要求1或2所述的方法,其中该组合物(C)包含
-相对于该组合物(C)的总体积,按体积计从45%至90%的至少一种聚合物(F),以及
-相对于该组合物(C)的总体积,按体积计从10%至55%的至少一种具有式(I)的PAO。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,在步骤(b)中,该组合物(C)使用熔融加工技术在熔融相中进行处理。
10.一种通过根据权利要求1至9中任一项所述的方法可获得的致密薄膜,其具有相对于所述薄膜的总体积小于5体积%的孔隙率。
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