[发明专利]用于测试工件的方法及装置

说明书

本发明涉及一种用于测试工件(3)的方法，特别用于测试电路板，该方法借助布置在支撑件(1)上的测试针(2)，该测试针(2)行至工件(3)之上或之中的预定位置，测试针(2)相对于支撑件(1)的位置应可变化。

技术领域

本发明涉及用于测试工件(尤其是电路板)的方法以及用于该方法的装置，所述方法借助于布置在支撑件上的测试针，该测试针行至工件之上或之中的预定位置。然而，本发明总体上还涉及一种用于移动物件(尤其是电气或电子物件或其零部件)的方法，特别用于借助仪器来测试、检验和/或处理工件(尤其是电子工件)。

背景技术

在日常生活中的许多情况下，都可能需要移动物件。举例而言，下文仅提及电子测试装置，但本发明并非仅限于此，说明书的内容仅供举例说明。本发明涉及发生在小型区域内的移动，同样并非限定于此。对此，其尤为适用。

目前市场上已存在多种形式及构造的这类测试装置。本发明涉及任意测试装置，利用该测试装置可通过多个测试针探测工件，这些测试针相互成特定关系布置，而这种布置在必要时须进行变动。特别地，本发明涉及用于在装配电子仪器之前检验电子电路板的故障及功能的测试装置，但并非仅限于此。

在这种装置中，将触针或触销压印于电路板上预先确定的位置(接触位置)，随后相应通过具有测试信号的测试计算机进行预先设定的调控，以确定已装配的电路板的高效能性。将电路板划分出众多个接触位置，通常需要数以千计的触针才能在触针与电路板上的接触位置之间建立正常的电气接触。

例如，在第DE 112006003034 T5号、第DE 19646252 A1号或第DE 4416151 B号专利文献中公开了这类测试装置。然而，这些仪器均要求待测试的电路板精确地装备测试针。由于在时间单位内仍需进行数次这类测试，因此在电路板相对于测试针的定位过程中会产生明显的问题。

在这类测试装置(尤其是电路板)中频繁出现的问题在于，待测试工件随之发生改变。这表示随后必须重新设定具有测试针的测试适配器，这需要很长时间才能完成，其原因在于，例如须重新计算测试针彼此的角度及排列关系并且对应的支撑件(孔板)也须重新设定。

发明内容

本发明的目的在于，改进上述类型的方法及装置，利用该方法及该装置易于改变测试针彼此的排列关系且特别加速该过程。本发明的目的还在于，增进物件的移动，特别是电子领域，但也包括微机械领域。

为达成上述目的，测试针相对于支撑件的位置可以改变。

由此，本发明的基本思路在于，将测试针可移动地布置于对应支撑件之上或之中。由测试针到达的位点或这些位点的位置在工件上变化，从而可以通过简单改变测试针到达对应位点的位置来考虑这种变化。例如，无需在支撑件中制造新的孔眼并且毋须计算新的角度或诸如此类关系。

在本发明的简单实施方案中，可以手动或机械方式实现测试针相对于支撑件的位置变化。对此，在本发明的范围内可设想多种可能方案。例如，测试针可配置成其探针能够通过测试针的旋转而在孔板中占据另一位置。这特别适用于相对于测试针的实际轴杆偏心布置的探针。

例如，支撑件或支撑件(尤其是孔板)中的凹口还可配置成测试针的位置可以改变。在此，例如可设想长孔。

另一可能方案是通过对应的磁体或通过相应的磁化实现测试针的位置变化。通过磁体使测试针易拆卸地固定至支撑件。该磁体本身可通过相应磁化或另一磁体移动，例如提升和/或转动。测试针跟随这种移动。

然而，通过磁体移动的可能方案还能够使测试针并非直接通入支撑件(例如孔板)中，而仅将测试针固定至板下侧。测试针由此可在下侧移动至任意位置，可再度以手动方式或通过设置于板上侧的磁体来完成这一过程。同时，测试针可随时转动。