[发明专利]磁通门型非接触式电流测量装置在审
申请号: | 201380067961.8 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN104871015A | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 李尚哲 | 申请(专利权)人: | 李尚哲 |
主分类号: | G01R15/20 | 分类号: | G01R15/20 |
代理公司: | 延边科友专利商标代理有限公司 22104 | 代理人: | 崔在吉 |
地址: | 韩国京畿道龙仁市器兴区驹*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁通门型非 接触 电流 测量 装置 | ||
1.一种磁通门型非接触式电流测量装置,流动有被测电流的导线穿过绕有第一线圈的第一磁芯、绕有第二线圈的第二磁芯和绕有第三线圈的第三磁芯,第四线圈同时缠绕在第一、第二、第三磁芯,并根据以相反极性形成振荡的第一、第二线圈的电流和引入到第三线圈的电流向第四线圈施加补偿电流,从而通过测量补偿电流来测量被测电流,其特征在于:它包括:
所述第一线圈上连接电容器,所述第一线圈的电感和所述电容器的电容产生LC振荡以向所述第一线圈施加电流,向所述第二线圈施加通过反转施加于所述第一线圈的电流的电压极性而获得的电流,使施加电流的第一磁芯和第二磁芯以相反极性磁化的振荡装置;
向第四线圈施加所述第一线圈及第二线圈的相加电压信号和与导入到所述第三线圈的电压信号相对应的补偿电流的补偿电流发生装置;
通过测量流动在所述第四线圈内的补偿电流来获得被测电流的检测装置。
2.根据权利要求1所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:所述振荡装置将利用具有高输入电阻特性的运算放大器反相放大施加于所述第一线圈的电流的电压信号后获得的电流施加于所述第二线圈,以防止施加于第一线圈的电流在施加于第二线圈的电流的作用下失真。
3.根据权利要求1或2所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:它还包括饱和回归装置,所述饱和回归装置通过由因所述第一线圈饱和而发生的高频率振荡引发的所述电容器的电压来开启(TURN-ON),在开启状态下,放大补偿电流,使所述第一磁芯退磁。
4.根据权利要求3所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:所述饱和回归装置可使所述电容器的电压信号依次通过平流电路和二极管,并在阳极(+)信号的作用下开启。
5.根据权利要求4所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:所述补偿电流发生装置通过向反相(-)输入端施加所述第一线圈及第二线圈的相加电压、向非反相(+)输入端施加导入到第三线圈的电压、将输出端反馈到反相(-)输入端的运算放大器来实现放大;所述饱和回归装置连接于所述运算放大器的反馈电路的两端,对所述运算放大器的输出端电压进行反相放大,并施加于运算放大器的反相(-)输入端。
6.根据权利要求5所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:所述饱和回归装置包括用所述电容器的阳极(+)信号开启所述饱和回归装置的所述平流电路和二极管、用于反相放大对应于补偿电流的电压信号的运算放大器、及在通过所述二极管的阳极(+)信号作用下开启,以进一步放大所述运算放大器的放大信号的晶体管。
7.根据权利要求1所述的磁通门型非接触式电流测量装置,其特征在于:所述第一磁芯、第二磁芯、第三磁芯由可分离和组合的切割铁心(cut core)构成,每个磁芯的结合面形成有相互嵌合的凹凸。
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