[发明专利]电气设备，特别是有机发光设备

说明书

技术领域

本发明涉及包括用于保护电气设备的电气单元以防水和/或氧气的比如薄膜封装（TFE）的保护元件的电气设备、用于检测保护元件的渗透性的检测装置以及对应的检测方法。本发明还涉及用于生产所述电气设备的生产装置和生产方法。

背景技术

有机发光设备对湿气非常敏感。出于此原因，有机发光设备一般包括TFE，其可以包括单个无机层或形成多层堆叠的无机和/或有机层的组合。TFE一般提供抵挡湿气的良好保护。然而，TFE屏障的质量可能由于针孔或空隙而降低，从而提供用于使湿气通过TFE的穿透通路。

US 7,767,498 B2公开了一种用于测试屏障结构的有效性的系统。该系统使用利用多层屏障堆叠封装的玻璃上的金属钙试样。通过渗透的透明氧化钙和氢氧化钙的形成增加可见光通过钙试样的透射，可以对此进行光学检测以用于确定多层屏障堆叠的渗透性程度。这种钙测试在技术上相对复杂并且花费相对长的时间。

发明内容

本发明的目的是提供包括电气单元和用于保护电气单元以防水和/或氧气的保护元件的电气设备、用于检测电气设备的保护元件的渗透性的检测装置以及对应的检测方法，其允许保护元件的渗透性的更快检测。本发明还涉及用于生产电气设备的生产装置和生产方法。

在本发明的第一方面中，呈现了一种电气设备，其中电气设备包括：

- 电气单元，

- 保护元件，其至少部分地覆盖电气单元，以用于保护电气单元以防水和/或氧气，

- 布置在保护元件与电气单元之间或保护元件内的检测层，其中检测层包括有机材料并且被适配成使得如果检测层与可用于检测保护元件的渗透性的接触气体接触则检测层的性质改变。

由于检测层包括有机材料并且如果检测层与可用于检测保护元件的渗透性的接触气体接触则改变其性质，并且由于该检测层布置在保护元件与电气单元之间或保护元件内，因此用于检测保护元件的渗透性的检测测试可以容易地集成到用于生产电气设备的生产过程中，即不要求如在上述专利文献US 7,767,498 B2中所公开的耗时的外部渗透性测试。例如，用于使水，特别是湿气和/或氧气通过保护元件的穿透路径可以在生产过程期间通过检测包括有机材料的检测层的性质的改变来相对快速地检测。特别是可以相对快速地检测造成穿透路径的针孔或其它缺陷。

接触气体优选地为选自包括水、氧气、臭氧、氟、溴、氯及其组合的组的气体。然而，也可以使用其它气体，其可以通过保护元件的有缺陷部分穿透。接触气体可以是具有小于或等于臭氧分子的尺寸，更优选地小于或等于氧气分子的尺寸，并且甚至更优选地小于或等于水分子的尺寸的气体分子的气体。

电气单元优选地为比如有机发光二极管（OLED）的有机发光单元，并且保护元件优选地为TFE，其可以包括单个无机层或形成多层堆叠的若干无机和/或有机层。

优选的是，检测层被适配成使得检测层的性质在检测层与接触气体接触的位置处局部改变。这允许确定比如通过保护元件的穿透路径的缺陷所存在的位置，其中然后在所确定的位置处可以修复该缺陷。

还优选的是，检测层被适配成通过与接触气体的化学反应而改变其性质。化学反应优选地为光化学反应。为了执行光化学反应，可以使用具有某一波长的光，比如紫外（UV）光。这允许以相对简单和可靠的方式修改检测层的性质，使得可以以相对高的精度检测到检测层与接触气体的接触。

在优选实施例中，检测层被适配成改变其性质使得通过光学测量设备可观察到改变。特别地，检测层被适配成如果检测层与接触气体，特别是湿气和/或氧气接触，则改变光致发光、反射率和吸收的组中的至少一个。

如果性质中的改变应当在光学上检测到，则保护元件可以关于用于光学检测性质改变的光至少部分地透明。如果保护元件是具有多个层的TFE并且如果检测层布置在TFE的这些层之间，则布置在检测层与测量设备的光源之间的TFE的仅一个或若干层可以对光源所发射的光至少部分地透明，以便允许光横穿TFE的这一个或若干层使得其能够到达检测层以用于检测可能的性质改变。

检测层可以具有在纳米或微米范围中的厚度。