[发明专利]X射线CT装置以及控制方法

说明书

技术领域

本发明的实施方式涉及X射线CT装置以及控制方法。

背景技术

近年来，正在开发使用光子计数方式的检测器进行光子计数CT(Computed Tomography)的X射线CT装置。与在以往的X射线CT装置中使用的积分型的检测器不同，光子计数方式的检测器输出能够分别对来自透过被检体的X射线的光子进行计数的信号。从而，在光子计数CT中，能够重建SN比(Signal per Noise)高的X射线CT图像。

另外，光子计数方式的检测器所输出的信号用于测量(辨别)所计数的各个光子的能量。从而，在光子计数CT中，能够将通过由一种管电压照射X射线而收集到的数据分成多个能量成分进行图像化。例如，在光子计数CT中，能够生成利用K吸收限的不同能够鉴定物质的图像。

在光子计数CT中，当入射放射线量低时，能够准确地测量放射线(X射线)。但是，在光子计数CT中，当入射放射线量多时，对各个光子计数的数据累积(堆积：pile up)，此时，不能将各个光子分离，因此，发生计数特性不是线性的计数的少计。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-34901号公报

发明内容

本发明要解决的问题在于，提供一种能够减少计数少计的发生的X射线CT装置以及控制方法。

实施方式的X射线CT装置具备强度分布数据收集部、扫描控制部、计数结果收集部、以及图像重建部。强度分布数据收集部通过第1扫描收集从X射线管照射并透过被检体的X射线的强度分布数据。扫描控制部根据上述强度分布数据，推定能够辨别透过上述被检体的各个X射线光子的X射线量，从上述X射线管向上述被检体照射推定出的X射线量的X射线执行光子计数CT用的第2扫描。计数结果收集部通过上述第2扫描收集对从上述X射线管照射并透过上述被检体的X射线光子进行计数的计数结果。图像重建部根据上述计数结果，重建X射线CT图像数据。

附图说明

图1A是用于说明堆积的图(1)。

图1B是用于说明堆积的图(2)。

图1C是用于说明堆积的图(3)。

图2是表示第1实施方式所涉及的X射线CT装置的构成例的图。

图3是用于说明第1实施方式所涉及的检测器的一个例子的图。

图4是用于说明第1实施方式所涉及的第1扫描的图。

图5是用于说明第1实施方式所涉及的扫描控制部的图。

图6是用于说明第1实施方式所涉及的第2扫描的图。

图7是用于说明第1实施方式所涉及的X射线CT装置的处理的一个例子的流程图。

图8A是用于说明第2实施方式所涉及的检测器的一个例子的图(1)。

图8B是用于说明第2实施方式所涉及的检测器的一个例子的图(2)。

图9是用于说明第3实施方式所涉及的第1扫描的图。

图10是用于说明变形例的图(1)。

图11是用于说明变形例的图(2)。

具体实施方式

以下，参照附图，详细说明X射线CT装置的实施方式。

在以下的实施方式中说明的X射线CT装置是能够执行光子计数CT的装置。即，在以下的实施方式中说明的X射线CT装置不是以往的积分型(电流模式测量方式)的检测器，而是通过使用光子计数方式的检测器对透过被检体的X射线进行计数，从而能够重建SN比高的X射线CT图像数据的装置。

(第1实施方式)

首先，在针对第1实施方式所涉及的X射线CT装置进行说明之前，针对光子计数CT进行说明。

在光子计数CT中，通过对光子数进行计数来测量光(X射线)量。每单位时间的光子数越多，则光(X射线)越强。另外，各个光子虽具有不同的能量，但在光子计数CT中，能够通过测量光子的能量来得到X射线的能量成分的信息。即，在光子计数CT中，能够将通过以一种管电压照射X射线而收集到的数据分成多个能量成分进行图像化。例如，在光子计数CT中，能够得到利用K吸收限的不同来鉴定物质的图像数据。

但是，在光子计数CT中，当入射放射线量多时，发生对各个光子计数的数据累积的“堆积：pile up”。当发生堆积时，不能使各个光子分离，因此，发生计数特性不是线性的“计数的少计”。