[发明专利]温度计和用于加工温度计的方法有效

专利信息
申请号: 201380059147.1 申请日: 2013-09-27
公开(公告)号: CN104769401B 公开(公告)日: 2018-04-24
发明(设计)人: J.伊勒;G.克洛伊贝尔 申请(专利权)人: 埃普科斯股份有限公司
主分类号: G01K1/08 分类号: G01K1/08;G01K7/22
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 赵辛,宣力伟
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 温度计 用于 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种温度计(1),具有陶瓷功能的感应元件(2)和陶瓷外壳(3),其中,所述感应元件(2)设置在陶瓷外壳(3)里面,使所述感应元件(2)的至少一侧面(20)具有与陶瓷外壳(3)直接且形状锁合的接触,其中,所述温度计(1)具有两个接触部件(4),它们位于所述感应元件(2)的对置的两侧,其中,所述陶瓷外壳(3)具有带有凹下的凹穴(31),其中,所述凹下在形状和大小方面适配于所述感应元件(2),并且其中所述接触部件(4)在凹下的顶视图中位于所述凹下的侧面。

2.如权利要求1所述的温度计,其中,所述陶瓷外壳(3)是喷铸外壳。

3.如权利要求1或2所述的温度计,

-其中所述陶瓷外壳(3)具有开孔(30),通过它所述陶瓷外壳(3)半侧地敞开,

-其中所述陶瓷外壳(3)具有凹穴(31),它具有与开孔(30)对置的底面(311),该底面具有台阶形凹下(312),并且

-其中所述感应元件(2)至少部分沉降地设置在凹下(312)里面。

4.如权利要求3所述的温度计,

-其中所述凹下(312)具有主部位(313)和两个邻接主部位(313)的两个对置侧面的侧面袋(314),

-并且其中所述感应元件(2)至少部分地设置在主部位(313)里面。

5.如权利要求4所述的温度计,

-其中每个接触部件(4)至少部分地设置在一个侧面袋(314)里面并且导电地与感应元件(2)连接并且

-其中所述接触部件(4)从陶瓷外壳(3)伸出来。

6.如权利要求5所述的温度计,

-其中所述感应元件(2)具有两个电极(21)并且

-所述接触部件(4)分别利用设置在侧面袋(314)里面的、焙烧的金属化膏(5)与感应元件(2)的电极(21)导电地连接。

7.如权利要求3所述的温度计,其中,所述陶瓷外壳(3)的开孔利用玻璃密封(6)封闭。

8.如权利要求1或2所述的温度计,其中,所述陶瓷功能的感应元件(2)是NTC元件或PTC元件。

9.如权利要求1或2所述的温度计,其中,所述感应元件(2)具有包括元素Y,Ca,Cr,Al,O的钙钛矿结构或包括元素Ni,Co,Mn,O的尖晶石结构。

10.如权利要求1或2所述的温度计,其中,所述陶瓷外壳(3)具有0.1mm至1mm的壁厚。

11.如权利要求1或2所述的温度计,其中,所述陶瓷外壳(3)具有氧化铝或者由其制成。

12.一种用于加工如权利要求1至11中任一项所述的温度计(1)的方法,具有下面的步骤:

-制备陶瓷的初始原料以及配有电极(21)的陶瓷功能的感应元件(2),

-利用喷铸工艺使陶瓷初始原料成形为基体并且烧结基体成陶瓷外壳(3),

-布置感应元件(2)在陶瓷外壳(3)里面,使感应元件(2)的至少一侧面(20)具有与陶瓷外壳(3)直接且形状锁合的接触。

13.如权利要求12所述的方法,其中,在布置感应元件(2)在陶瓷外壳(3)里面以后使接触部件(4)分别利用金属化膏(5)导电地与电极(21)连接,并且接着焙烤金属化膏。

14.如权利要求13所述的方法,其中,利用玻璃膏封闭陶瓷外壳(3)的开孔(30),并且接着焙烤玻璃膏。

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