[发明专利]解析MS3实验期间的事件在审

专利信息
申请号: 201380059039.4 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN104781906A 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: J·L·坎贝尔 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 曹晓斐
地址: 新*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要:
搜索关键词: 解析 ms3 实验 期间 事件
【说明书】:

相关申请案的交叉参考

本申请案主张2012年12月20日提出申请的序列号为61/739,849的美国临时专利申请案的权益,所述临时专利申请案的内容以全文引用的方式并入本文中。

背景技术

介绍

质谱/质谱/质谱法(MS3)是一种用于定量实验的越来越普遍的技术。如同常用于定量中的质谱/质谱法(MS/MS),MS3涉及选择用于碎裂的前驱物离子及监测第一代碎片离子或产物离子的碎裂。然而,MS3包含将产物离子碎裂并监测一或多个第二代碎片离子的所述碎裂的额外步骤。与MS/MS实验相比,此额外步骤赋予MS3实验更大特定性及对化学噪声的更大恢复力。

然而,大体来说,MS3实验具有比传统MS/MS实验长得多的循环时间。特定来说,已出现影响在离子陷阱质谱仪上执行的全扫描MS3实验的循环时间的两个问题。

第一,无法显著减少用于在离子陷阱质谱仪中处置碰撞气体所花费的时间。大体来说,离子陷阱质谱仪针对MS3实验中的碎裂事件使用碰撞诱导解离(CID)。按惯例,CID事件涉及同时施加CID电压及碰撞气体脉冲。由于碰撞气体脉冲通常需要“抽气”周期来除去过量碰撞气体且避免将系统过度加压,因此CID的时间周期必须包含此“抽气”周期。另外,在不存在所述减少的情况下,无法减少在其期间施加CID电压的时间周期,此导致减小的碎裂效率。

第二,不存在优化MS3实验的最后碎裂阶段的工作流程工具。现有常规工具预测用于MS/MS定量的初生碎片离子。然而,类似工具不可用于帮助选择用于MS3定量的最佳第二代碎片离子。

发明内容

揭示一种用于减少质谱/质谱/质谱法(MS3)实验的碰撞诱导解离(CID)事件的时间周期且在所述MS3实验期间产生更具总体一般性CID事件的系统。所述系统包含质谱仪及处理器。

所述质谱仪对样本执行MS3实验。所述处理器将所述MS3实验的CID事件划分成两个时间周期。在所述CID事件的第一时间周期开始时,处理器指令所述质谱仪既打开脉冲阀以便以脉冲方式输送碰撞气体又施加第一CID电压。在所述CID事件的第二时间周期开始时,所述处理器指令所述质谱仪既关闭所述脉冲阀又施加第二CID电压。在所述CID事件的所述第二时间周期期间,将气体的初始脉冲从所述质谱仪抽离,从而恢复原始基线压力。然而,此抽气花费短时间周期,在所述短时间周期期间,可在第二CID事件中使用剩余气体。此允许抽气与CID在时间上重叠,借此减少所述CID事件的所述总体时间周期。另外,所述第二CID电压可不同于所述第一CID电压,借此使目标离子经受不同碎裂方案,从而使总体碎裂事件更具一般性。

揭示一种用于减少MS3实验的CID事件的时间周期且在所述MS3实验期间产生更具总体一般性CID事件的方法。使用处理器将由质谱仪对样本执行的MS3实验的CID事件划分成两个时间周期。在所述CID事件的第一时间周期开始时,使用所述处理器指令所述质谱仪既打开脉冲阀以便以脉冲方式输送碰撞气体又施加第一CID电压。在所述CID事件的第二时间周期开始时,使用所述处理器指令所述质谱仪既关闭所述脉冲阀又施加第二CID电压。

揭示一种包含非暂时性及有形计算机可读存储媒体的计算机程序产品,所述计算机可读存储媒体的内容包含具有在处理器上执行以便执行用于减少MS3实验的CID事件的时间周期且在所述MS3实验期间产生更具总体一般性CID事件的方法的指令的程序。在各种实施例中,所述方法包含提供一系统,其中所述系统包括一或多个相异软件模块,且其中所述相异软件模块包括分析模块及控制模块。

所述分析模块将由质谱仪对样本执行的MS3实验的CID事件划分成两个时间周期。在所述CID事件的第一时间周期开始时,所述控制模块指令所述质谱仪既打开脉冲阀以便以脉冲方式输送碰撞气体又施加第一CID电压。在所述CID事件的第二时间周期开始时,所述控制模块指令所述质谱仪既关闭所述脉冲阀又施加第二CID电压。

本文中陈述申请人的教示的这些特征及其它特征。

附图说明

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