[发明专利]轮胎的均匀性波形的校正方法

说明书

技术领域

本发明涉及对从轮胎均匀性试验机得到的均匀性波形进行校正的技术。

背景技术

一直以来，对制成产品的轮胎进行测量均匀性(uniformity)等来判定优劣的轮胎试验(轮胎均匀性试验)。在该轮胎试验中，将轮胎推压至轮胎均匀性试验机所具备的负荷转鼓的外周面。在此基础上，通过设置于负荷转鼓的测压元件(load cell)等，测量使该轮胎旋转时在轮胎的半径方向、横向方向上施加的载荷来作为均匀性波形，并基于测量到的均匀性波形进行轮胎均匀性的评价。

但是，虽然设置于轮胎均匀性试验机的负荷转鼓例如被加工成截面为正圆的圆筒形状，但是由于加工精度等的制约，严格来说，该截面并不是完全的正圆。即，在负荷转鼓的外周面会不可避免地产生一些凹凸。这样，如果在使轮胎与并非完全的正圆的负荷转鼓的外周面相接触的基础上使轮胎旋转，则在轮胎通过少量存在于负荷转鼓的外周面的凹凸时，负荷转鼓的旋转轴会产生旋转振动。产生的旋转振动会作为误差而包含在由测压元件测量的均匀性波形中。其结果是，存在基于包含这样的误差的均匀性波形而计算出的轮胎均匀性的精度也发生降低的可能性。

因此，为了从由测压元件等测量到的均匀性波形中去除起因于这样的负荷转鼓的旋转振动的误差，换言之，为了校正测量到的均匀性波形，已经想出几个校正方法(专利文献1、专利文献2等)。

例如，在专利文献1的校正方法中，在负荷转鼓的直径外侧设置有能够检测负荷转鼓的外周面的位移(沿着轮胎的半径方向的位移，或者沿着轮胎的横向方向的位移)的检测器(传感器)。并且，由该检测器检测出的负荷转鼓的位移被作为旋转振动来测量。并且，在测量到的负荷转鼓的旋转振动上乘以轮胎的弹簧常数而得到的值被作为由于旋转振动而作用到负荷转鼓的力变动的波形来计算。如果将这样计算出的力变动的波形作为用于校正起因于旋转振动的误差的校正波形，从实际测量到的均匀性波形中减去，就能够对均匀性波形进行校正。

此外，在专利文献2的校正方法中，由测压元件测量到的均匀性波形被划分成轮胎的每1次旋转的数据区间，划分后的均匀性波形彼此相互叠加。如果这样按轮胎的每1次旋转的数据区间进行均匀性波形的叠加，则误差会通过叠加而被抵消，能够得到平均的均匀性波形。如果从由测压元件实际测量到的均匀性波形中减去这样的平均的均匀性波形，就得到包含因负荷转鼓的旋转振动导致的误差量的波形。接着，如果将所得到的含有误差量的波形划分成负荷转鼓的每1次旋转的数据区间，并使划分后的波形彼此相互叠加，则含有误差量的波形就被平均化。由此，能够与专利文献1同样地求取出用于对因旋转振动导致的误差进行校正的校正波形。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本国特开昭57-141532号公报

专利文献2：日本国特开平2-259445号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在专利文献1的校正方法中，有时由于轮胎的类别(种类、尺寸)的不同，很难精度良好地计算出上述的校正波形。

例如，在实际的轮胎均匀性试验机中，将轮胎推压至负荷转鼓的位置大多根据标准的种类、尺寸的轮胎而设定。但是，由轮胎均匀性试验机测量的轮胎中有宽度比标准的轮胎宽的轮胎和宽度比标准的轮胎窄的轮胎。在对这样的轮胎进行试验时，用来检测外周面的位移的检测器的高度会从最佳的位置偏离。即，在专利文献1的校正方法中，根据要测量轮胎均匀性的轮胎的类别的不同，检测器的设置位置会从最佳的位置偏离，而因为检测器的设置位置的偏离会使计算出的校正波形与适当的校正波形相偏离。由此，可能会很难求取出精度良好的校正波形。

此外，在专利文献2记载的校正方法中，在重叠多个波形进行平均化时，如果存在微小的相位偏离等误差，则这样的误差也会被叠加并被加到校正波形上。其结果是，因叠加反而会使误差变大，与专利文献1的校正方法同样地，有时会很难求取到精度良好的校正波形。

本发明鉴于上述问题而完成，其目的在于，提供一种轮胎的均匀性波形的校正方法，该校正方法能够将因负荷转鼓的旋转振动造成的影响从测量到的均匀性波形中去除，提高轮胎均匀性的测定精度。

用于解决课题的手段

为了达成上述目的，本发明的轮胎的均匀性波形的校正方法采取以下技术手段。