[发明专利]固体-聚合物涂层中缺陷的检测

权利要求书

1.用于定量测定电绝缘涂层中针孔存在的方法，所述电绝缘涂层已经电化学沉积在导电电极材料的表面上，所述方法包括：

将涂覆的电极材料浸入包含溶解在溶剂中的探针物质的溶液中，其中所述探针物质具有可逆的电化学还原和氧化电位；

相对于浸入所述溶液中的第二电极，对所述涂覆的电极材料施加电位；并且

测量在所述涂覆的电极材料和所述第二电极之间流动的电流。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述导电电极材料的还原电位在溶剂的电化学窗口之外。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述探针物质的可逆电化学还原电位比溶剂的电化学还原电位更正，并且所述探针物质的可逆电化学氧化电位比电极的电化学氧化电位更负。

4.如权利要求2所述的方法，其中所施加的电位比所述溶剂的电化学还原电位更正，并且比所述导电电极的电化学氧化电位更负。

5.如权利要求2所述的方法，其中如下扫描所施加的电位：从比所述导电电极的电化学氧化电位更负并且比所述探针物质的电化学氧化电位更正的电位，到比所述溶剂的电化学还原电位更正并且比所述探针物质的电化学还原电位更负的电位，再返回比所述导电电极的电化学氧化电位更负并且比所述探针物质的电化学氧化电位更正的电位。

6.如权利要求5所述的方法，其中扫描速率在0.001Vs^-1到1Vs^-1之间。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述导电电极材料的氧化电位在所述溶剂的电化学窗口之外。

8.如权利要求7所述的方法，其中所述探针物质的可逆电化学氧化电位比所述溶剂的电化学氧化电位更负，并且可逆电化学还原电位比所述电极的电化学还原电位更正。

9.如权利要求7所述的方法，其中所施加的电位比所述溶剂的电化学氧化电位更负，并且比所述导电电极的电化学还原电位更正。

10.如权利要求7所述的方法，其中如下扫描所施加的电位：从比所述导电电极的电化学还原电位更正并且比所述探针物质的电化学还原电位更负的电位，到比所述溶剂的电化学氧化电位更负并且比所述探针物质的电化学氧化电位更正的电位，再返回比所述导电电极的电化学还原电位更正并且比所述探针物质的电化学还原电位更负的电位。

11.如权利要求10所述的方法，其中扫描速率在0.001Vs^-1到1Vs^-1之间。

12.如权利要求1所述的方法，其还包括以下步骤：

将未涂覆的导电电极材料浸入所述溶液中；

相对于浸入所述溶液中的第二电极，对所述未涂覆的电极材料施加电位；

测量在所述未涂覆的电极材料和所述第二电极之间流动的电流；并且

在所施加的电位下，对比所述涂覆的电极材料的测量电流与所述未涂覆的电极材料的测量电流。

13.如权利要求1所述的方法，其还包括以下步骤：将所述探针物质拴系到较大的物质，所述较大的物质有效地减小所述探针穿过所述涂层的渗透。

14.如权利要求13所述的方法，其中所述探针物质与所述较大物质复合。

15.如权利要求13所述的方法，其中所述较大物质选自金属复合物、金刚烷、富勒烯，和纳米颗粒。

16.如权利要求13所述的方法，其中所述探针物质包含紫精基。

17.如权利要求16所述的方法，其中所述紫精基栓系在二氧化钛纳米颗粒的表面。

18.如权利要求1所述的方法，其还包括如下步骤：向所述溶液添加支持电解质盐以促进所述溶液中电荷的传输，其中所述电解质盐在所述探针物质的电化学氧化电位和电化学还原电位内没有反应性。

19.如权利要求18所述的方法，其中所述电极材料包括Cu₂Sb，所述涂层包括聚丙烯腈-聚丙烯酸甲酯共聚物膜，所述探针物质包括紫罗碱，并且所述电解质盐包括LiClO₄。