[发明专利]用于诊断有错的发光器件的装置和方法

权利要求书

1.用于诊断在具有至少两个发光器件（3）、尤其是发光二极管的支路（2）中的有错的发光器件（3）的方法，其中所述发光器件（3）被划分成至少两个组（4，5），并且为每个组（4，5）确定电测量量（U_Tn、U_Tm），其特征在于，针对每个组确定所述测量量（U_Tn、U_Tm）相对于参考值的变化并且借助在所述组（4，5）中的变化的比值识别发光器件（3）的缺陷并且将所述缺陷用信号通知。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所确定的测量量（U_Tn、U_Tm）是电压，其中确定每个组（4，5）上的电压降，并且确定所述电压降的变化。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，为了识别发光器件（3）的缺陷，将所述变化的比值与每个组（4，5）的发光器件（3）的数量（n，m）的比值进行比较，并且在有偏差的情况下将缺陷用信号通知。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在偏差在容差范围之外才将缺陷用信号通知。

5.根据权利要求1至4之一所述的方法，其特征在于，在支路（2）的光和电的控制之后立即确定并且规定所述组（4，5）的参考值。

6.根据权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，为了确定测量量（U_Tn、U_Tm）和/或参考值而使用在微秒范围中的电流脉冲。

7.用于诊断在具有至少两个发光器件（3）的支路（2）中的有错的发光器件（3）的装置（1），尤其是按照根据权利要求1至7之一所述的方法，其中所述发光器件（3）被划分成至少两个组（4，5），并且每个组（4，5）被分配有用于确定电测量量（U_Tn、U_Tm）的测量器件（10），其特征在于，用于比较测量量（U_Tn、U_Tm）相对于参考值的变化的诊断单元（14）与至少两个组（4，5）的测量器件（10）连接。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述发光器件（3）是发光二极管（LED），优选地是相同结构方式、类型和颜色的LED。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，在发光器件（3）之间设置有热连接（37）。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述发光器件（3）具有共同的冷却面（38）。

11.根据权利要求7至10之一所述的装置，其特征在于，所述发光器件（3）连同测量装置（10）和诊断单元（14）一起被布置在唯一的电路板（35）上。

12.根据权利要求7至11之一所述的装置，其特征在于，所述测量装置（10）和诊断单元（14）被集成在微控制器（17）中，其中发光器件组（4，5）的端子优选地经由分压器（9）与微控制器（17）的输入端（10）连接。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述测量量（U_Tn、U_Tm）的参考值被存储在微控制器（17）的非易失性存储器（15）中。