[发明专利]在表面上形成透明器件在审
申请号: | 201380051014.X | 申请日: | 2013-11-08 |
公开(公告)号: | CN104685578A | 公开(公告)日: | 2015-06-03 |
发明(设计)人: | 宋爀在;詹姆斯·H·舍夫纳;文廷瑄;孙庆儿 | 申请(专利权)人: | HRL实验室有限责任公司 |
主分类号: | H01B5/14 | 分类号: | H01B5/14 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾丽波;井杰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面上 形成 透明 器件 | ||
1.一种器件,包括:
一个透明或实质上透明的衬底;
银纳米线薄膜,该银纳米线薄膜置于至少部分衬底之上;和
电介质材料,其置于至少部分银纳米线薄膜之上。
2.如权利要求1所述的器件,还包括下列部件中的一个或多个:天线、互连部件、传输线、频率选择性表面、电阻器、电容器、电感器。
3.如权利要求1所述的器件,其中衬底至少部分是由玻璃和树脂玻璃中的一种形成的。
4.如权利要求2所述的器件,其中天线配置为以RF、微波、和毫米波频率中的一个频率运行。
5.如权利要求1所述的器件,还包括置于衬底上的光学透明有源器件。
6.如权利要求2所述的器件,其中天线包括下列中的一个:形成在衬底上的银纳米线薄膜、金属线、和狭槽。
7.如权利要求2所述的器件,其中天线被配置为分集式天线。
8.如权利要求2所述的器件,还包括沿着天线、互连部件、传输线中的一个的边缘嵌入的导体。
9.如权利要求2所述的器件,其中电容器包括氮化硅和氧化铪(HfO2)的一个,以及银纳米线薄膜被配置为欧姆触点。
10.如权利要求1所述的器件,还包括具有金属氧化物的盖层的天线,其中金属氧化物包括氧化铝(Al2O3)、二氧化硅(SiO2)、和氧化铪(HfO2)中的一个。
11.一种形成无源电子器件的方法,包括:
接收一个透明或实质上透明的衬底,该衬底包括银纳米线薄膜;
对银纳米线薄膜进行蚀刻;以及
用电介质材料对部分银纳米线薄膜进行涂覆。
12.如权利要求11所述的方法,其中所述对银纳米线薄膜进行蚀刻还包括用包含镍蚀刻剂TFB的蚀刻剂对银纳米线薄膜进行蚀刻。
13.如权利要求11所述的方法,其中对部分银纳米线薄膜进行涂覆包括用氧化铝(Al2O3)、二氧化硅(S iO2)、和氧化铪(HfO2)中的一个对部分银纳米线薄膜进行涂覆。
14.如权利要求11所述的方法,其中电子器件还包括下列中的一个:天线、频率选择性表面、电阻器、电容器、和电感器。
15.一种器件,包括:
一个实质上透明或透明的衬底;
栅电极;
石墨烯薄膜;和
多个触点,其由银纳米线形成,位于部分石墨烯薄膜之上。
16.如权利要求15所述的器件,还包括下列之一:天线、频率选择性表面、电阻器、电容器、和电感器。
17.如权利要求15所述的器件,其中衬底配置为以一种能够进行选择、放大、转换以及混频的基于RF的频率运行。
18.如权利要求15所述的器件,其中栅电极包括金、铜、铟锡氧化物(ITO)、和铟锌氧化物(IZO)中的一种。
19.一种形成电子器件的方法,包括:
接收一个实质上透明或透明的衬底;
在部分衬底上形成石墨烯薄膜;以及
使用银纳米线在石墨烯薄膜上形成多个触点。
20.如权利要求19所述的方法,其中提供衬底还包括提供包含玻璃和树脂玻璃中的一个的衬底。
21.如权利要求19所述的方法,还包括至少使用热剥离胶带将石墨烯转移到衬底上。
22.如权利要求19所述的方法,还包括在衬底中形成下列之一:金属线、和狭槽。
23.如权利要求19所述的方法,还包括提供由金、铜、铟锡氧化物(ITO)和铟锌氧化物(IZO)中的一个形成的栅极。
24.如权利要求19所述的方法,还包括使用银纳米线形成下列之一:天线、频率选择性表面、电阻器、电容器、和电感器。
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