[发明专利]壁厚检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及使传感器部抵接到瓶等检查对象物的表面来检查其抵接部位的壁厚的壁厚检查装置。本发明特别涉及即使是如俯视的躯干部的形状形成方形形状的瓶(以下称为“方形瓶”)、形成椭圆形形状的瓶(以下称为“椭圆形瓶”)那样沿着躯干部的周面的周方向的弯曲的程度在全周并非恒定的瓶，也能够正确地检查壁厚的壁厚检查装置。

背景技术

例如，在制瓶工厂中，针对在制瓶机的多个区域中分别制造的瓶，在搬送至最终的包装工序的期间，通过检查线来检查有无缺陷等。作为在这种检查线上设置的瓶检查装置，有在星轮的周围配置多个检查站的结构的装置。图17所示的星轮8在外周面设置了多个凹部80，向各凹部80内导入了的瓶10通过星轮8的间歇旋转依次传送到各检查站。在检查瓶10的壁厚的检查站中，检查对象的瓶10被支承于支承台的上表面的旋转中心，使该瓶10通过旋转驱动机构绕中心轴进行轴旋转，从而通过壁厚检查装置在全周测定瓶10的壁厚，检查瓶10的好坏。

作为这种壁厚检查装置，有使用了使传感器部90抵接到瓶10的表面来检测测定电极的电极图案与接地电极的电极图案之间的静电电容的静电电容检测器9的装置(例如参照专利文献1)。该静电电容检测器9具备朝向瓶10的表面对所述传感器部90施力而按压的弹性体91，所以即使瓶10振动，该振动也被弹性体91吸收，从而稳定地保持传感器部90和瓶10的表面的接触状态。

传感器部90是在全长上弯曲的带板状的安装基板92的表面上贴合示出了电极图案的合成树脂制的电极片93的结构。在测定电极的电极图案与接地电极的电极图案之间，检测抵接到瓶10的部位的静电电容，并且将静电电容的检测输出取入到未图示的运算控制装置而换算为壁厚。

专利文献1：日本专利第3416084号公报

发明内容

在检查对象物是图17所示那样的躯干部的形状形成圆筒形的圆形的瓶10的情况下，沿着瓶10的躯干部的周面的周方向的弯曲的程度在全周恒定。因此，传感器部90和瓶10的外周面的抵接状态被保持为恒定。相对于此，在检查对象物是图18以及图19所示那样的方形瓶10A的情况下，沿着瓶10A的躯干部的周面的周方向的弯曲的程度在全周并非恒定。因此，在抵接到弯曲的程度小的大致平的对面部分11的状态(图18(1)所示的状态)下和抵接到弯曲的程度大的拐角部分12的状态(图18(2)(3)所示的状态)下，方形瓶10A的表面和传感器部90的电极图案的相对位置关系变化。结果，即使方形瓶10A的壁厚在全周均匀，所检测的静电电容也根据部位而成为不同的值，错误地识别方形瓶10A的壁厚。

在检查对象物是图20所示的椭圆形瓶10B的情况下也是同样的，沿着椭圆形瓶10B的躯干部的周面的周方向的弯曲的程度在全周并非恒定。因此，在抵接到缓慢地弯曲的短径部分13的状态下和抵接到急剧地弯曲的长径部分14的状态下，椭圆形瓶10B的表面和传感器部90的电极图案的相对位置关系变化。结果，即使椭圆形瓶10B的壁厚在全周均匀，所检测的静电电容也根据部位而成为不同的值。

图21(1)(2)示出在全周测定方形瓶10A的躯干部的上端部的壁厚而得到的结果。在图21(1)中，折线图形I示出通过机械式测量器(例如后述刻度盘厚度测量器100)每隔规定的角度测定方形瓶10A的壁厚而得到的瓶全周范围的壁厚的测定值(以下称为“基准值”)，折线图形K示出通过使用了图17所示的静电电容检测器9的壁厚检查装置每隔规定的角度测定方形瓶10A的壁厚而得到的瓶全周范围的壁厚的测定值。另外，在图21(2)中，折线图形Q示出测定值K相对基准值I的每个角度的测定误差，所述对面部分11中的测定误差小，但拐角部分12中的测定误差成为大的值。

图22(1)(2)示出在全周测定方形瓶10A的躯干部的下端部的壁厚而得到的结果。在图22(1)(2)中，折线图形I示出通过机械式测量器(例如后述刻度盘厚度测量器100)每隔规定的角度测定方形瓶10A的壁厚而得到的瓶全周范围的壁厚的测定值(基准值)，折线图形K示出通过使用了图17所示的静电电容检测器9的壁厚检查装置每隔规定的角度测定方形瓶10A的壁厚而得到的瓶全周范围的壁厚的测定值，折线图形Q示出测定值K相对基准值I的每个角度的测定误差，所述对面部分11中的测定误差小，但拐角部分12中的测定误差成为大的值。

另外，虽然未图示，但是对于椭圆形瓶10B，也根据测定部位而壁厚的测定误差不同，相对于缓慢地弯曲的短径部分13中的测定误差，急剧地弯曲的长径部分14中的测定误差变大。