[发明专利]无创生物测量装置有效

专利信息
申请号: 201380050429.5 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN104661595B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 西本直道;村山武雄;铃木智明;齐藤太计雄 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: A61B5/1455 分类号: A61B5/1455;A61B10/00
代理公司: 北京市安伦律师事务所11339 代理人: 杨永波,刘良勇
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 创生 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种无创生物测量装置,它用光照射受检者指头,获取透射光,用拍照部件接受透射光,拍照指头照片,对获得的图像进行处理,检测出受检者的生物信息。

背景技术

人们已经了解有一种无创生物测量装置用光照射受检者手指,用受光部件接收其透射光或反射光以获取光学信息,分析该光学信息获得受检者的生物信息(如专利文献1)。专利文献1上公开的无创生物测量装置具有放置受检者手指的基座、覆盖放在所述基座上的手指的覆盖部件、装在所述覆盖部件上的二个光源部件、拍照部件,该装置用拍照部件接受所述光源部件发出的光透过受检者手指后的透射光,拍摄所述手指照片,获得受检者手指的透射图像,通过对该图像进行处理检测出受检者血红蛋白浓度。

专利文献

专利文献1:日本专利公开(特开)2000-262496号公报。

发明内容

发明要解决的技术问题

然而,专利文献1上公开的无创生物测量装置不能从设在覆盖部件上的光源部件向充当测定对象的受检者整个手指均匀地照射光。因此,得到的图像局部存在或暗或明的部分,不是一张清晰的图像。

本发明有鉴于此,其目的是提供一种能够获得受检者指头清晰图像的、比以往的生物信息检测精度更高的无创生物测量装置。

解决技术问题的技术手段

为解决上述课题,本发明第一形态的无创生物测量装置具有:用于放置测定对象受检者指头的基座、沿放在所述基座上的指头的纵长方向排列配置的数个发光部件、调整各个所述数个发光部件光量的光量调整部件、接受所述发光部件发出的光透过所述基座上放置的指头后的透射光,获取所述指头图像的拍照部件、对所述拍照部件获得的图像进行处理,检测受检者生物信息的信息处理部件。

以此使指头纵长方向的透射光量均匀,防止受检者指头图像局部或明或暗,获得清晰的图像。由于图像清晰,图像处理的对象——即注意区域广,能够设定比以往更适当的注意区域。其结果,能够扩大处理对象图像的血管部分图像的可检索区域,使生物信息的检测精度比以往得到提高。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件使最靠近所述基座上放置的指头的关节位置处设置的发光部件的光量比其他发光部件光量低。关节部分易透光,所以这部分相应的发光部件的光量比其他发光部件光量调低,可以防止受检者指头图像局部或明或暗。

在上述形态中还可以如下设置:使所述发光部件的光量随着远离所述基座上放置的指头关节而提高。在指头中,光会随着远离关节部分而难以透过,因此这样做可以防止受检者指头图像局部或明或暗。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件调整所述发光部件的光量,以使得光量随着远离所述基座上放置的指头关节而非线性地增加。随着远离指头关节部分,光的透射率非线性地变化,因此,这样做可以使指头的纵长方向透射光量更加均匀。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件决定相对于距放置在所述基座上的指头关节的距离的所述发光部件光量的变化程度,按照所决定的光量变化程度调整所述发光部件的光量。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件调整所述发光部件光量,使透过所述基座上放置的指头的透射光光量的平均值为一定值。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件根据所述拍照部件获得的所述指头的透射图像调整所述发光部件的光量。

在上述形态中还可以如下设置:所述光量调整部件根据所述拍照部件获得的所述指头的透射图像辉度调整所述发光部件的光量。

在上述形态中还可以如下设置:所述信息处理部件控制所述光量调整部件以使得在所述拍照部件对受检者指头进行拍照处理之前先进行所述发光部件的光量调整处理。

在上述形态中还可以如下设置:所述各个发光部件具有发出不同波长光的数个发光元件,发出同一波长光的发光元件沿所述基座上放置的指头的纵长方向排列配置。

发明的有益效果

根据本发明,可以获得受检者指头的清晰图像,可提高生物信息的检测精度。

附图说明

图1为实施方式涉及的无创生物测量装置的外观结构斜视图;

图2为实施方式涉及的无创生物测量装置的结构框图;

图3为测定单元结构的侧面截面图;

图4为发光部件的结构底面图;

图5为发光部件的结构电路图;

图6为实施方式涉及的无创生物测量装置的运行步骤流程图;

图7为光量调整处理步骤的流程图;

图8为发光部件光量调整处理的说明图;

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