[发明专利]具有内部数据存储器的测量参量传感器有效
| 申请号: | 201380049322.9 | 申请日: | 2013-07-23 |
| 公开(公告)号: | CN104704324B | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
| 发明(设计)人: | M·哈勒;U·孔克尔;W·维耶尔;S·韦斯勒 | 申请(专利权)人: | 霍廷格-鲍德温测量技术设备公司 |
| 主分类号: | G01D1/18 | 分类号: | G01D1/18 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
| 地址: | 德国达*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 参量传感器 测量 内部数据存储器 存储区域 存储 处理设备 使用寿命 数据存储 直接存储 终端用户 防篡改 销售商 预期的 推断 分配 | ||
本发明涉及一种具有内部数据存储器(32)的测量参量传感器(3),一种用于所述测量参量传感器(3)的处理设备(2)以及一种用于将数据存储在所述测量参量传感器(3)的内部数据存储器(32)中的方法。内部数据存储器(32)具有多个存储区域。在所述多个存储区域的至少两个存储区域中分别存储相应于测量值在确定的测量值范围中出现的频率的计数值。因此,将关于测量参量传感器的负荷的数据直接存储在所述测量参量传感器中并且之后直接且明确地分配给所述测量参量传感器。因此,能够实现数据的防篡改的存储,并且如果例如由终端用户进行抱怨,则测量参量传感器的制造商或销售商可以确定所述测量参量传感器是否已经超负荷了。此外,能够实现对测量参量传感器的仍预期的使用寿命和/或测量准确性的推断。
技术领域
本发明涉及一种具有内部数据存储器的测量参量传感器,一种用于所述测量参量传感器的处理设备以及一种用于将数据存储在所述测量参量传感器的内部数据存储器中的方法。
背景技术
已知具有数据存储器的测量参量传感器,在所述数据存储器中存储测量参量传感器的特征值。例如,由DE 101 30 215B4已知一种具有数据存储模块的测量参量传感器。在所述数据存储模块中可以存储特征值,如其通常保持在分离的数据表或校准协议中那样。如果测量参量传感器与分析处理设备连接,则可以将存储在数据存储模块中的特征值传输给分析处理设备。
此外,过去存在以所谓的即插即量(Plug&Measure)技术来装配测量参量传感器的努力。这应相应于所谓的即插即用(Plug&Play)技术,借此使计算机配件——如鼠标与计算机连接。已经开发了用于测量参量传感器的标准化的电子数据表,所谓的传感器电子数据表(TEDS)或者电子传感器数据表。其在标准IEEE 1451.4中描述并且可以存储在测量参量传感器的EEPROM中。其中可以包含例如制造商数据、型号、序列号、测量范围与测量灵敏度以及校准数据。
在已知的具有数据存储器的测量参量传感器中,静态数据分别存储在数据存储器中。所述静态数据满足与否则保持在分离的数据表中的特征值相同的功能,因此能够实现测量参量传感器和所述测量参量传感器的校准的辨识。然而不已知的是,在所述数据存储器中也存储动态数据,如测量参量传感器的过程数据。
在使用测量参量传感器技术的应用中,部分存在将过程数据直接存储在测量参量传感器中的需求。这适于机械制造领域并且同样适于其他技术领域。
例如,在测量参量传感器的制造商处或(如果不发生向终端用户的直销)在所述测量参量传感器的销售商处可能存在将过程数据直接存储在测量参量传感器中的需求。终端用户也可能具有这种需求。
发明内容
因此,本发明的任务是提供一种具有内部数据存储器的测量参量传感器、一种用于所述测量参量传感器的处理设备和一种用于将数据存储在所述测量参量传感器的内部数据存储器中的方法,借此能够实现将在测量参量传感器的运行中产生的过程数据直接存储在测量参量传感器中。应能够在运行中并且也在测量参量传感器从测量装置拆卸之后读取数据,在所述测量装置中使用所述测量参量传感器。
所述任务借助根据权利要求1所述的方法、根据权利要求6所述的处理设备、根据权利要求11所述的测量参量传感器和根据权利要求16所述的测量系统来解决。
根据本发明的第一构型,提供一种用于将数据存储在测量参量传感器的内部数据存储器中的方法。所述方法包括确定测量参量传感器的测量值落入多个测量值范围的哪个测量值范围中的步骤、使相应于所确定的测量值范围的计数值改变预确定的值的步骤以及将已改变的计数值存储在测量参量传感器的内部数据存储器的多个存储区域的至少两个存储区域的相应存储区域中的步骤。
这些步骤可以在运行过程中实施。因此,它们能够实现将在测量参量传感器的运行中产生的过程数据——即计数值直接存储在测量参量传感器中。
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