[发明专利]求取检测区域图像信息的摄像机系统和方法有效

专利信息
申请号: 201380049298.9 申请日: 2013-08-26
公开(公告)号: CN104838644B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: A·福格勒;P·鲁瑙 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: H04N5/355 分类号: H04N5/355
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
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【权利要求书】:

1.一种摄像机系统(24),

其中,所述摄像机系统(24)至少具有:

具有图像传感器(7)和滤波器掩膜(6)的摄像机(4),以及控制与分析处理装置(12),所述图像传感器(7)向所述控制与分析处理装置输出图像信号,所述图像信号具有以第一曝光时间拍摄的第一帧和以不同于所述第一曝光时间的第二曝光时间(τ2)拍摄的第二帧,

其中,所述图像传感器(7)具有输出像素信号的传感器像素的布置并且所述滤波器掩膜(6)具有设置在所述传感器像素前方的滤波器像素的布置,

其特征在于,

所述滤波器掩膜(6)具有第一滤波器像素和第二滤波器像素,它们不同地衰减入射光的强度,并且它们分别设置在所述图像传感器(7)的传感器像素前方,使得在所述图像传感器(7)上形成彼此邻接的传感器像素的像素区域(16),所述像素区域分别具有至少一个第一传感器像素和至少一个第二传感器像素,在所述至少一个第一传感器像素前方设置有第一滤波器像素,在所述至少一个第二传感器像素前方设置有第二滤波器像素,

其中,所述第一传感器像素输出第一像素信号而所述第二传感器像素输出第二像素信号,

其中,所述控制与分析处理装置(12)相互比较一个像素区域(16)的具有不同曝光时间的第一像素信号和第二像素信号。

2.根据权利要求1所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述第二滤波器像素比所述第一滤波器像素更强地衰减入射光的强度,并且所述控制与分析处理装置(12)将以较长的曝光时间拍摄的第二像素信号与以较短的曝光时间拍摄的第一像素信号进行比较。

3.根据权利要求2所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述第一滤波器像素无衰减地构造,所述第二滤波器像素构造成衰减所述入射光的强度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述控制与分析处理装置(12)在所述第一像素信号和所述第二像素信号的比较时考虑所述曝光时间的比例(w)和所述滤波器像素的衰减的比例(d)并且求取在考虑这些比例(w,d)的情况下所述像素信号是否位于公差边界内。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述控制与分析处理装置(12)由所述比较求取在较长的曝光时间的情况下所拍摄的像素信号中是否包含短时的强度增大(20)。

6.根据权利要求5所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述控制与分析处理装置(12)校正由所述图像传感器(7)产生的图像信号并且输出经校正的图像信号,

其中,所述控制与分析处理装置(12)对于所述经校正的图像信号在第一情形中使用所述像素区域(16)的具有较小衰减以及较短的曝光时间的一个或多个像素信号而在第二情形中使用所述像素区域(16)的具有较大衰减以及较长的曝光时间的一个或多个像素信号,其中,在所述第一情形中,所述控制与分析处理装置在一个像素区域(16)中没有确定通过较长的曝光时间的短时的强度增大(20)引起的强度增大,其中,在所述第二情形中,所述控制与分析处理装置在一个像素区域(16)中在所述较长的曝光时间中没有确定短时的强度增大(20)。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像机系统(24),其特征在于,所述第二滤波器像素作为灰滤波器衰减可见光和/或红外光的波长范围上的入射光的强度。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像机系统(24),其特征在于,

所述摄像机系统(24)此外具有用于发射偏振的辐射(23)以照明检测区域(9)的照明装置(22);

所述第二滤波器像素构造为偏振滤波器,所述偏振滤波器用于使所述照明装置(22)的在所述检测区域(9)中反射的辐射(23)经过,

其中,所述控制与分析处理装置(12)在第一模式中分析处理所述第二像素信号用于与较短的曝光时间的所述第一像素信号进行比较而在照明模式中在所反射的辐射(23)的探测方面分析处理所述第二像素信号。

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