[发明专利]放射线图像摄影装置、校正用数据获取方法和程序

说明书

技术领域

本发明涉及对由透过了被摄体的放射线表示的放射线图像进行拍摄的放射线图像摄影装置、用于控制该放射线图像摄影装置的程序和用于对在该放射线图像摄影装置中生成的像素值进行校正的校正用数据的获取方法。

背景技术

近年来，在TFT(Thin Film Transistor)有源矩阵基板上配置放射线感应层并能够将放射线直接转换为数字数据的FPD(Flat Panel Detector)等放射线检测器得到应用，使用该放射线检测器对由所照射的放射线表示的放射线图像进行拍摄的电子暗盒等放射线图像摄影装置得到应用。在放射线检测器中，作为将放射线转换为电信号的方式，具有利用闪烁器将放射线转换为光后通过光电二极管转换为电荷的间接转换方式、利用包含非晶态硒等的半导体层将放射线直接转换为电荷的直接转换方式等，但是在各方式中，能够在半导体层中使用的材料存在多种。

在使用放射线检测器拍摄放射线图像的情况下，需要使照射到被检体的放射线的剂量最小并确保良好的画质。为了获取良好画质的放射线图像，需要以照射与摄影对象部位对应的适当的剂量的放射线的方式对放射线源中的照射控制条件进行设定。因此，提出了如下的放射线图像摄影系统：在放射线检测器中具备对透过被检体而照射的放射线的累积剂量进行检测并基于该检测结果对停止从放射线源照射放射线的时机进行控制的自动曝光控制(AEC：Automatic Exposure Control)功能。为了实现该自动曝光控制(AEC)，提出了与用于拍摄放射线图像的像素不同而将用于对所照射的放射线的累积剂量进行检测的像素埋入到放射线检测器的装置。

例如，在日本特开2012－15913号公报中，记载了如下的放射线图像摄影装置：在对放射线进行检测的检测区域中将包含放射线图像拍摄用像素和放射线检测用像素的多个像素配置成矩阵状，对在与放射线检测用像素连接的信号配线中流动的电荷进行检测，从而对所照射的放射线的剂量进行检测。

另外，在日本特开2012－134960号公报中，记载了如下的放射线图像摄影装置：具有设定单元，该设定单元基于在放射线图像拍摄用像素的电荷蓄积期间内从放射线检测用像素输出的电信号，对将来自该放射线图像拍摄用像素的信号放大的电荷放大器电路的放大率进行设定。

发明内容

发明要解决的课题

在上述日本特开2012－15913号公报和日本特开2012－134960号公报中记载的那样的结构的放射线检测器(FPD)中，通过与由构成像素的光电二极管等光电转换元件构成的传感器连接的薄膜晶体管(以下，简称为TFT)的通断控制，来读出蓄积于该传感器的电荷。

在此，TFT的尺寸具有±1μm左右的误差而形成于基板上。构成包括TFT的放射线检测器的各结构部的制造上的偏差成为各像素的灵敏度偏差的要因。即，被照射了同一剂量的放射线的多个像素由于这些灵敏度偏差而输出相互不同的大小的信号(像素值)。为了对这种像素的灵敏度偏差进行矫正而通常进行增益校正等的校准。增益校正使用与该像素值对应的增益校正系数对从各像素输出的信号(像素值)进行校正，从而对灵敏度偏差进行矫正。为了进行这种增益校正，需要对应每个像素预先获取用于对每个像素的增益校正系数进行导出的校正用数据。

另外，在放射线检测器中，除上述的增益校正以外，在用于对输入了从各像素读出的信号的放大器的偏置偏差进行矫正的偏置校正、为了获取抓拍图像(shot image)而实施的校正等各种各样的项目中实施校准，获取用于实施这些校准的校正用数据。

在上述的日本特开2012－15913号公报和日本特开2012－134960号公报记载的那样的放射线检测器中，由于放射线图像的摄影所使用的拍摄用像素和用于对所照射的放射线的累积剂量进行检测的剂量检测用像素这两种像素设于放射线检测器内，因此不仅需要对拍摄用像素进行校准，而且也需要对剂量检测用像素进行校准，因此，除了针对拍摄用像素的各拍摄用像素的校正用数据外，还需要获取针对剂量检测像素的各剂量检测像素的校正用数据。然而，在利用各自的处理例程获取了针对拍摄用像素的各拍摄用像素的校正用数据和针对剂量检测像素的各剂量检测像素的校正用数据的情况下，校正用数据的获取花费很多时间。其结果为，在产品出厂时、产品设置时、定期维护时等进行校正用数据的更新时，生产量变得恶化。在不具有剂量检测用像素的已知的放射线检测器中，为了进行各种校准的校正用数据的生成时间的短缩也成为大的课题，进一步追加针对剂量检测用像素的校正用数据的生成时间会显著地有损用户的便利性，因而不优选。