[发明专利]X射线辐射的检测和X射线检测器系统

权利要求书

1.一种利用X射线检测器(100)检测X射线辐射(R)的方法，所述X射线检测器具有直接转换的半导体检测器元件(150_a,150_b)，

其中，借助辐射源(10,210,210_a,210_b)将附加辐射(K)传送到所述半导体检测器元件(150_a,150_b)，以使载流子经过相对长的时间段结合到晶格缺陷,

基于预先给出的额定值(T_a,T_b,T_c)来控制或调节所述附加辐射(K)的传送，以及

所述附加辐射(K)至少在第一测量序列之前的时间上的准备阶段中并且在还没有执行X射线测量期间进行。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述辐射源(210,210_a,210_b)包括至少一个来自于由紫外线光源、红外线光源和用于可见光的光源构成的组中的部件。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述辐射源(210,210_a,210_b)包括发光二极管、激光器、卤素灯、荧光灯。

4.根据权利要求1或3所述的方法，其中，所述辐射源(10)包括X射线辐射源(10)。

5.根据权利要求1或3所述的方法，其中，在时间上和/或关于辐射密度和/或关于能量，来控制和/或调节所述附加辐射(K)的传送。

6.根据权利要求1或3所述的方法，其中，采集与所述额定值(T_a,T_b,T_c)相对应的监视测量值(M_a,M_b,M_c)。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，用于采集监视测量值(M_a,M_b,M_c)的监视单元(160,160_a,160_b,160_c)包括来自于由以下构成的组中的至少一个部件：

-光传感器，

-X射线传感器，

-X射线检测器的半导体检测器元件(150_a,150_b)，

-X射线检测器的评估电子器件，

-剂量计，

-温度计，

-照度计。

8.根据权利要求1或3所述的方法，其中，基于要利用待检测的X射线辐射(R)透射的检查对象(O)的特性，来控制和/或调节所述附加辐射(K)的传送。

9.根据权利要求1或3所述的方法，其中，基于X射线辐射(R)通过X射线辐射源(10)的输出的进程和/或X射线辐射源(10)的X射线辐射(R)通过检查对象(O)的衰减，来控制和/或调节所述附加辐射(K)的传送。

10.根据权利要求1或3所述的方法，其中，基于计数率漂移来控制和/或调节所述附加辐射(K)的传送。

11.根据权利要求1或3所述的方法，其中基于以下参量中至少一个控制和/或调节所述附加辐射(K)的传送：

-照射时间，

-引入的剂量，

-检测信号的值或进程，

-检测器的总运行时间，

-温度，

-湿度，

-半导体检测器元件(150_a,150_b)的电流消耗，

-一组半导体检测器元件(150_a,150_b)的电流消耗。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，在如下时间窗中传送所述附加辐射(K)：在所述时间窗中X射线辐射源不输出X射线辐射(R)。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，在X射线检测器(100)的总的运行时间期间传送所述附加辐射(K)。