[发明专利]用于细颗粒测量设备的层流监控方法、细颗粒分析方法以及细颗粒测量设备

说明书

技术领域

本技术涉及细颗粒测量设备、以及在细颗粒测量设备中的层流监控方法和细颗粒分析方法。更具体地，本技术涉及在形成在流通池(flow cell)、微芯片等中的流动通路中确定层流的液体输送状态并且在细颗粒测量设备中检测液体传输异常的层流监控方法等。

背景技术

存在已知的细颗粒测量设备，该细颗粒测量设备在形成在流通池、微芯片等的流动通路中形成包含细颗粒的层流，并且将光照射到层流中的细颗粒以检测从细颗粒产生的荧光和散射光。例如，流式细胞仪能够基于所检测的荧光或散射光的强度或光谱来测量并分析诸如细胞、珠粒等的细颗粒的光学特性。

在细颗粒测量设备中，层流基本上形成在流动通路的中间，使得循环细颗粒。机制的实例包括形成鞘流并且将包含细颗粒的液体聚集在流动通路的中间的方法、在流动通路的中间将细颗粒与声音的能量聚合的声学聚集方法、以及其组合方法。然而，当粉尘或气泡混合在流动通路中时，在层流中发生干扰，发生在流动通路中的独立的细颗粒的循环位置方面的变化，不能执行准确的测量，并且因此在某些情况下发生在数据的可靠性方面的问题。此外，由于混合在流动通路中的粉尘或气泡而发生的噪声在某些情况下劣化数据的精确性。

关于本技术的实施方式，在专利文献1和专利文献2中公开了用于抑制由于在流动通路中的细颗粒的循环位置的变化引起的测量误差的技术。在专利文献1中公开的流体颗粒分析设备中，经由光学分配器(optical divider)从前散射光、侧散射光、或后散射光提取的检测光(散射光)通过4分割光电二极管、区域CCD等检测。然后，检测与激发光中心和鞘流中心之间的检测位置的位置偏离并且调整流通池的位置，使得位置偏离在预定范围内。此外，专利文献2公开了用于使用在从细颗粒产生的散射光中发生的偏斜角度的变化检测关于细颗粒的位置信息并且调整流通池的位置或激发光的焦点位置的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP H9-166541A

专利文献2：JP 2011-149822A

发明内容

技术问题

根据本技术的实施方式，期望提供一种用于自动确定在流动通路中的层流的液体传输状态以保证数据的可靠性的技术。

技术方案

为了解决问题，根据本技术，提供了细颗粒测量设备中的层流监控方法，该方法包括：将光照射到层流的照射步骤；通过检测器接收S偏振成分并且在检测器中获取S偏振成分的光接收位置信息的位置检测步骤，该S偏振成分与从层流产生的散射光分开并被给予S偏振成分；以及基于光接收位置信息确定层流的状态的确定步骤。

在位置检测步骤中，其光接收表面可被分割为多个区域的检测器用作检测器。更具体地，在位置检测步骤，其光接收表面以格子形状分割为四个区域(即，区域A、B、C和D)的检测器用作检测器，并且可获取在区域A和不相邻于区域A的区域C的检测值之间的差△1(A-C)作为光接收位置信息。此外，可获取在区域A和C的检测值的和(A+C)与区域B和D的检测值的和(B+D)之间的差△2((A+C)-(B+D))作为光接收位置信息。4分割光电二极管可用作检测器。

根据根据本技术的层流监控方法，在确定步骤中，可基于所获取的差△1和/或差△2确定层流的状态。更具体地，在确定步骤中，当差△1和/或差2偏离预定范围时，层流可被确定为异常的，并且当差△1和/或差2包含在所述预定范围内时，层流可被确定为正常的。更优选地，当偏离预定范围的差△1和/或差△2的获取频率超过预定频率时，层流被确定为异常的。

层流监控方法包括检测从包含细颗粒的层流产生的光的光检测步骤，以及基于在光检测步骤中获取的光的强度信息获得细颗粒的光学特性的分析结果的分析步骤。在分析步骤中，仅提取在层流被确定为正常的时所获取的强度信息并且获得分析结果。

而且，根据本技术，提供了细颗粒测量设备，包括：光照射单元，被配置为将光照射至层流；第一分光元件，被配置为将从层流产生的散射光分为S偏振成分和P偏振成分；S偏振检测器，被配置为接收S偏振成分；像散元件，布置在第一分光元件和S偏振检测器之间并且被配置为将像散赋予S偏振成分；以及确定单元，被配置为接收来自S偏振检测器的输出、获取S偏振成分的光接收位置信息、以及基于光接收位置信息确定层流的状态。优选地，像散元件可以是圆柱形透镜。