[发明专利]用于标识光学组件的给定几何特征的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于标识光学组件的给定几何特征的方法，并涉及一种被适配成用于实施所述方法的步骤的系统。

本发明进一步涉及一种计算机程序产品及一种计算机可读介质。

背景技术

本发明涉及光学组件，如眼镜片或用于眼镜片的半成品镜片毛坯。

众所周知，此类光学组件包括两个表面，这两个表面各自具有被适配成用于结合起来形成适用于减弱/矫正佩戴者的视觉缺陷的几何特征。

该光学组件具有以下表面中的至少一个：球面表面、非球面表面、复球面表面、渐进式表面、包括多个段的表面。

例如，在这些几何特征当中，存在这些表面中的至少一个的曲率半径，曲率半径从这些表面的一点到其他点可以不同。的确，多段镜片具有含有多个区域的表面，每个区域具有一个通常称为段的恒定曲率半径。因此，镜片的段数是允许标识眼镜片或用于眼镜片的半成品镜片毛坯是单视觉还是双焦点或三焦点镜片的几何特征。渐进式镜片具有连续变化的曲率半径。单视觉镜片具有球面或非球面或复球面表面。

这些几何特征使得可以表征光学组件的表面并因此对其进行标识。

这是众所周知的光学组件的几何结构的测量方法。

例如，机械触诊方法和系统使得可以用非常高的准确度确定镜片的三维结构。这种方法在于将机械探针放置成与镜片的表面直接接触并且然后记住接触探针表面的位置。在镜片上重复此操作几百次。

然而，此方法非常长。例如，光学组件的每个面需要大约20分钟。而且，它有时需要破坏性样品制备，例如通过用胶水固定镜片。此外，它的使用需要拜访专家操作员并处于非常受限的环境下。因此，它与制造实验室中所实施的快速测量不是很兼容。

还存在在已知其他表面的情况下精确地确定镜片的表面的光学方法。例如，专利申请WO 02/16902 A1描述了一种用于光学组件的几何结构的透射测量的方法和设备。所描述的方法使得可以测量一个或多个抛光表面或光学组件的折射率分布。然而，此方法实现起来比较昂贵。

结果是，需要一种使得可以快速地并以可靠的方式标识光学组件(如镜片或半成品镜片毛坯)的几何特征的方法。

发明内容

本发明的目的是通过提出一种用于快速标识光学组件的几何特征而不与光学组件接触的方法和系统来克服这些缺点。那些在用于控制或测量光学组件(如眼镜片)的眼科领域中将是特别有用的。然而，在眼科领域内可以考虑其他应用。

因此，本发明涉及一种用于对在由眼镜片或用于眼镜片的半成品镜片毛坯组 成的列表内选择的光学组件的给定几何特征进行标识的方法，所述方法包括以下步骤，包括：

提供由一种有机材料制成的该光学组件，其条件是，当在一个不同于一个发射波长λ_e的照明波长λ_i下被照亮时，所述材料可以在该发射波长λ_e下发射光；

用一束入射光束照亮该光学组件的一个表面，该入射光束至少包括该照明波长下的光但没有该发射波长下的光；

收集由该光学组件的该被照亮的表面在该发射波长下所发射的光以建立所述表面的一张图像；以及

通过实施计算机手段并应用一个度量将该图像与特定于该给定几何特征的参考数据进行对比并提供所述给定几何特征的一个标识输出来对所述图像进行处理。

由于本发明，现在可以在与光学组件没有任何接触并且不存在操作员的任何干预的情况下对光学组件(如镜片或半成品镜片毛坯)进行标识。这允许高生产率。

根据一个实施例，该方法通过技术手段实施，例如，通过计算机手段控制此类机器。

根据可以根据所有可能的组合来组合的各实施例：

在一个照明方向上用一束入射光束照亮该光学组件的所述表面，该入射光束具有基本上垂直于该光学组件的所述表面的一片光的形式

所述方法包括以下步骤：

在一个照明方向上用一束入射光束照亮该光学组件的所述表面，该入射光束具有基本上垂直于该光学组件的所述表面的一片光的形式；

在一个观看方向上收集由该光学组件的该被照亮的表面在该发射波长下所发射的光以建立所述表面的一张图像，照明和观看方向之间的角度基本上在5°和 90°之间并且优选地基本上等于85°；以及

以便于产生一个曲线的一个轮廓的这样一种方式处理该图像，该曲线由该片光与所述表面的交集形成，以及从该曲线的该轮廓产生所述给定几何特征的该标识输出；

所述方法进一步包括一个用于确定该曲线的所产生的轮廓的至少一个曲率半径的步骤；