[发明专利]降低玻璃片中的变形的方法有效

专利信息
申请号: 201380038437.8 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN104471467A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: C·C·康崔莱斯;E·A·奎利亚尔;S·R·马卡姆 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 项丹
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 降低 玻璃片 中的 变形 方法
【说明书】:

本申请要求2012年5月31日提交的美国专利申请系列第13/485301号的优先权,其全文通过引用结合入本文。

技术领域

本发明一般地涉及玻璃基材,更具体地涉及用于显示器制造过程中的玻璃基材产品。

发明背景

用于液晶显示器(LCD)器件生产中的玻璃基材的物理尺寸仅允许小的误差空间,因为器件中组件的不对准会导致视觉可检测的缺陷,这导致产品对于消费者是不可接受的。

会引起这种缺陷的一个因素是在制造玻璃母片过程中固定在玻璃片中的应力,这导致从玻璃母片切割的子片的变形。随着玻璃片尺寸的增大,这种变形被发生恶化。但是,在玻璃制造商制造玻璃母片中,这些将来的变形是不易觉察的。

因此,存在对于确定和降低变形的方法需求,所述变形会在子片中由于玻璃母片中存在的应力所展现出来。

发明内容

在一个示例性方面,提供了一种降低玻璃片中的变形的方法。所述方法包括以下步骤:在玻璃制造过程中形成玻璃带;从玻璃带分离玻璃片,所述玻璃片具有基本平坦的表面;测量通过玻璃片表面的延迟;定义表征玻璃片延迟的延迟参数;将玻璃片切割成多个子片;测量子片的变形;定义表征子片变形的变形参数;确定延迟参数和变形参数之间的相关性,使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数;以及改变玻璃制造工艺,从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节,从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。

在所述示例性方面的一个例子中,使得变形参数保持以预定的概率低于特定值。

在所述示例性方面的另一个例子中,测量子片的变形的步骤包括测量面内变形,所述面内变形定义为在切割步骤之前和之后,沿着子片的平面的第一组点的偏移。

在所述示例性方面的另一个例子中,变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的最大值。

在所述示例性方面的另一个例子中,测量延迟的步骤包括测量表面上的第二组点的延迟,所述延迟参数是第二组点的延迟的平均值。

在另一个示例性方面,提供了一种降低玻璃中的变形的方法。所述方法包括以下步骤:在玻璃制造过程中形成玻璃带;从玻璃带分离玻璃片,所述玻璃片具有基本平坦的表面;测量通过玻璃片表面的延迟;定义表征玻璃片延迟的延迟参数;将玻璃片切割成多个子片;测量子片的变形;定义表征子片变形的变形参数;以及确定延迟参数和变形参数之间的相关性,使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数。

在所述另一个示例性方面的一个例子中,所述方法还包括利用延迟参数和变形参数之间的相关性,来预测后续玻璃片的子片的变形参数的步骤。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,所述方法还包括如下步骤:改变玻璃制造工艺,从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节,从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,使得变形参数保持以预定的概率低于特定值。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,所述方法还包括在测量延迟的步骤之前使得玻璃片平坦化的步骤;以及在测量变形的步骤之前使得各个子片平坦化的步骤。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,所述确定步骤包括采用最小二乘回归法制定等式。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,测量子片的变形的步骤包括测量面内变形,所述面内变形定义为在切割步骤之前和之后,沿着子片的平面的点的偏移。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,测量子片的面内变形的步骤包括测量子片上的第一组点的面内变形。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的最大值。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,所述方法还包括如下步骤:改变玻璃制造工艺,从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节,从而降低来自后续玻璃片的子片的变形;以及使得最大面内变形保持以预定的概率低于特定值。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的平均值。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,所述方法还包括如下步骤:改变玻璃制造工艺,从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节,从而降低来自后续玻璃片的子片的变形;以及使得平均面内变形保持以预定的概率低于特定值。

在所述另一个示例性方面的另一个例子中,子片的角限定所述第一组点。

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