[发明专利]在预定空间中检测金属物件的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201380036625.7 申请日: 2013-07-10
公开(公告)号: CN104521151B 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 汉斯彼得·威德默;马库斯·比特纳;卢卡斯·西贝尔;马塞尔·菲舍尔 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H04B5/00 分类号: H04B5/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 宋献涛
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 预定 空间 检测 金属 物件 系统 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于检测物件的存在的设备,所述设备包含:

谐振电路,其具有谐振频率,所述谐振电路包含感测电路,所述感测电路包含导电结构;

检测电路,其经配置以响应于检测取决于所述谐振电路正在谐振的频率的测定特性与取决于所述谐振电路的所述谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在;以及

耦合电路,其经配置以通过缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路引起的所述谐振频率的变化而缩减所述检测电路对所述谐振电路的影响。

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述耦合电路包含如下各者中的一者:

电容器,其电连接于所述感测电路与所述检测电路之间,所述谐振电路包含所述电容器和所述感测电路;

耦合回路,其电连接到所述检测电路,所述耦合回路电感耦合到所述感测电路;或

电容性分压器,其经配置以将所述检测电路电容耦合到所述感测电路。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述电容器经配置以缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路进行的所述谐振频率的变化,所述电容器进一步经配置以衰减具有低于所述谐振频率的频率的电信号。

4.根据权利要求2所述的设备,其中所述感测电路包含电连接到所述导电结构的电容器,所述导电结构包含电感器,且其中所述电容器和所述导电结构形成所述谐振电路且确定所述谐振频率。

5.根据权利要求2所述的设备,其中所述电容性分压器包含第一电容器和第二电容器,其中所述感测电路包含耦合到包含电感器的所述导电结构的所述第一电容器,其中所述第一电容器和所述导电结构形成所述谐振电路且确定所述谐振频率,所述第二电容器确定所述感测电路与所述第二电容器之间的耦合量。

6.根据权利要求1所述的设备,其中所述感测电路单独地形成所述谐振电路且确定所述谐振频率。

7.根据权利要求1所述的设备,其中所述测定特性包含所述谐振电路的测定谐振频率或测定质量因数(Q因数)中的至少一者,且其中所述对应特性为所述谐振电路的所述谐振频率或所述质量因数中的至少一者。

8.根据权利要求1所述的设备,其中所述检测电路包含电连接到所述耦合电路的引线,且其中所述耦合电路进一步经配置以缩减在不存在所述物件的情况下由所述引线进行的所述谐振频率的变化。

9.根据权利要求1所述的设备,其中所述导电结构为第一导电结构,且其中所述设备进一步包含第二导电结构,所述第二导电结构不同于所述第一导电结构,所述第二导电结构经配置以在足以对负载进行供电或充电的电平下经由磁场而以无线方式发射电力。

10.根据权利要求9所述的设备,其进一步包含发射电路,所述发射电路经配置以在一频率下将交流电施加到所述第二导电结构,其中所述谐振电路的所述谐振频率高于所述交流电的所述频率。

11.根据权利要求9所述的设备,其中所述第一导电结构包含界定第一平面的第一回路,其中所述第二导电结构包含界定平行于所述第一平面的第二平面的第二回路,其中所述第一回路定位于由所述第二回路围封的区域或与所述第二回路重叠的区域中的至少一者上方。

12.根据权利要求11所述的设备,其进一步包含多个感测电路,所述多个感测电路包括所述感测电路,所述感测电路包括所述第一回路,所述多个感测电路中的每一者包含各自形成相应回路的相应导电结构,所述多个感测电路的所述回路以集体地界定第三平面的多维阵列而定位,其中所述回路集体地至少覆盖由所述第二回路围封的所述区域。

13.根据权利要求12所述的设备,其中所述多个感测电路的所述回路中的每一者的直径等于或小于所述第二回路的直径的百分之十。

14.根据权利要求12所述的设备,其中所述感测电路中的至少每一者形成具有相应谐振频率的相应谐振电路,其中所述检测电路进一步经配置以响应于检测取决于所述谐振电路中的每一者正在谐振的频率的相应测定特性与取决于所述相应谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在。

15.根据权利要求1所述的设备,其中所述测定特性包含测定谐振频率,且其中所述检测电路经配置以遍及包括所述谐振频率的频率范围而测量所述谐振电路的阻抗响应,且经配置以基于所述阻抗响应而确定所述测定谐振频率。

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