[发明专利]有价文件、用于检查有价文件存在的方法和有价文件系统有效

专利信息
申请号: 201380035105.4 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN104411505A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: J.凯克特;W.劳舍尔;S.斯坦莱因 申请(专利权)人: 德国捷德有限公司
主分类号: B42D15/00 分类号: B42D15/00;G07D7/12;B41M3/14;D21H21/48
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 贾静环
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 文件 用于 检查 存在 方法 文件系统
【权利要求书】:

1.有价文件,其具有发光性微粒聚集体,所述发光性微粒聚集体分别包括至少两种分别在第一和第二发射波长下发光的不同发光性均匀固相,其中在评价通过在第一发射波长下测量第一发光强度和在第二发射波长下测量第二发光强度能够获得的测量值时,所述测量是位置特定的并在所述有价文件的不同位置上实施,第一发光强度和第二发光强度之间存在统计学关系。

2.根据权利要求1的有价文件,其中用于评价的发光强度分别是借助算法换算的校正测量值。

3.根据权利要求1和2中任一项的有价文件,其中所述聚集体选自由核-壳颗粒、颜料聚集体、包裹颜料聚集体和由纳米颜料包围的颜料组成的组。

4.根据权利要求1~3中任一项的有价文件,其中所述微粒聚集体具有的粒径D99在1~30微米的范围内、优选在5~20微米的范围内、进一步优选在10~20微米的范围内、和特别优选在15~20微米的范围内。

5.根据权利要求1~4中任一项的有价文件,其中所述微粒聚集体具有的粒径D50在1~30微米的范围内、优选在5~20微米的范围内、和特别优选在7.5~20微米的范围内。

6.用于检查权利要求1~5中任一项的有价文件的存在的方法,其包括以下步骤:

a)激发发光物质至发射;

b)以位置区别性和波长选择性方式捕获由发光物质所发射的辐射的测量值,产生所述测量值以得到包括发光波长和位置的第一和第二发射波长测量值对中的任一项,从而用来获得在第一发射波长下的第一发光强度和在第二发射波长下的第二发光强度;

c)检查在第一发光强度和第二发光强度之间是否存在统计学关系。

7.有价文件系统,其具有至少第一有价文件和第二有价文件,其中根据权利要求1~5中任一项分别选择所述第一有价文件,并且所述第一有价文件能够通过发光强度的统计学关系和所述第二有价文件区分开。

8.根据权利要求7的有价文件系统,其中所述第二有价文件没有统计学关系。

9.根据权利要求7的有价文件系统,其具有第一有价文件、第二有价文件、第三有价文件和第四有价文件,其中第三有价文件和第四有价文件只是任选的,即:

a)分别具有由发光微粒聚集体(A+B)和发光颗粒C组成的发光混合物的第一有价文件,其中

所述微粒聚集体(A+B)分别包括分别在第一和第二发射波长下发光的两种不同的发光均匀固相A和B,以及分别由在第三发射波长下发光的均匀固相C组成的所述发光颗粒C,并且

当评价能够通过在第一发射波长下测量第一发光强度、在第二发射波长下测量第二发光强度和在第三发射波长下测量第三发光强度获得的测量值时,所述测量是位置特定的并且在单独有价文件的不同位置上实施,只在第一发光强度和第二发光强度之间存在统计学关系;

b)分别具有由发光微粒聚集体(B+C)和发光颗粒A组成的发光混合物的第二有价文件,其中

所述微粒聚集体(B+C)分别包括分别在第二和第三发射波长下发光的两种不同的发光均匀固相B和C,以及分别由在第一发射波长下发光的均匀固相A组成的所述发光颗粒A,并且

当评价能够通过在第一发射波长下测量第一发光强度、在第二发射波长下测量第二发光强度和在第三发射波长下测量第三发光强度获得的测量值时,所述测量是位置特定的并且在单独有价文件的不同位置上实施,只在第二发光强度和第三发光强度之间存在统计学关系;

任选地,c)分别具有由发光微粒聚集体(A+C)和发光颗粒B组成的发光混合物的第三有价文件,其中

所述微粒聚集体(A+C)分别包括分别在第一和第三发射波长下发光的两种不同的发光均匀固相A和C,以及分别由在第二发射波长下发光的均匀固相B组成的所述发光颗粒B,并且

当评价能够通过在第一发射波长下测量第一发光强度、在第二发射波长下测量第二发光强度和在第三发射波长下测量第三发光强度获得的测量值时,所述测量是位置特定的并且在单独有价文件的不同位置上实施,只在第一发光强度和第三发光强度之间存在统计学关系;

任选地,d)分别具有由发光微粒聚集体(A+B+C)的第四有价文件,其中

所述微粒聚集体(A+B+C)分别包括分别在第一、第二和第三发射波长下发光的三种不同的发光均匀固相A、B和C,并且

当评价能够通过在第一发射波长下测量第一发光强度、在第二发射波长下测量第二发光强度和在第三发射波长下测量第三发光强度获得的测量值时,所述测量是位置特定的并且在单独有价文件的不同位置上实施,在第一发光强度、第二发光强度和第三发光强度之间存在统计学关系。

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