[发明专利]基于光栅的差分相位对比成像有效
申请号: | 201380034361.1 | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN104394770B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光栅 旋转机架 检查区域 成像系统 相位光栅 吸收器 辐射 支撑 探测 探测器阵列 辐射源 平移 差分相位 对比成像 输出指示 相干分量 相位分量 周期期间 干涉仪 源光栅 贯穿 探测器 整合 发射 配置 吸收 | ||
1.一种被配置用于基于光栅的DPCI的成像系统(200),包括:
旋转机架(204),其能绕检查区域旋转;
由所述旋转机架支撑的辐射源(208),其被配置为发射贯穿所述检查区域的辐射;
由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212),其被配置为探测贯穿所述检查区域的辐射;
由所述旋转机架支撑的干涉仪,其包括:
源光栅(214),
相位光栅(218),以及
吸收器光栅(220),以及
参考数据确定器,其基于所述探测器阵列的输出信号至少确定所述相位光栅与所述吸收器光栅之间的相对全局相位,
其中,在整合周期期间,所述相位光栅和所述吸收器光栅被配置为相对于另一个以相反方向连续地平移,并且所述探测器被配置为生成并输出指示所探测的辐射的电信号,其中,所述电信号包括吸收分量、相干分量和相位分量。
2.根据权利要求1所述的成像系统,其中,每个相位步进周期所述相位光栅和所述吸收器光栅的方向反向。
3.根据权利要求1所述的成像系统,其中,每个相位步进周期所述相位光栅和所述吸收器光栅的方向相同。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的成像系统,其中,整合周期包括多个相位步进周期。
5.根据权利要求1至3中的任一项所述的成像系统,还包括:
控制器,其控制所述吸收器光栅来以恒定的速度平移,其中,所述控制器确定针对每个采样间隔的机架角度位置并利用所述机架角度位置来校正所述吸收器光栅的速度的变化。
6.根据权利要求1至3中的任一项所述的成像系统,还包括:
控制器,其相对于预定义整合间隔自适应地控制相位编码速度。
7.根据权利要求1至3中的任一项所述的成像系统,还包括:
控制器,其相对于实际旋转的机架角度位置自适应地控制相位编码速度。
8.一种用于扫描的方法,包括:
绕检查区域旋转支撑辐射源、干涉仪和探测器阵列的机架,其中,每次旋转包括多个整合周期;
在整合周期期间并且在旋转所述机架的同时,相对于另一个以相反方向连续地平移所述干涉仪的相位光栅和吸收器光栅;
在所述整合周期期间并且在旋转所述机架的同时,对所述探测器阵列采样预定次数;
在所述整合周期期间并且在旋转所述机架的同时,跟踪对所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个的所述平移的位置;
经由所述探测器阵列来生成包括吸收分量、相干分量和相位分量的信号;以及
基于经由所述探测器阵列生成的所述信号来确定所述相位光栅与所述吸收器光栅之间的相对全局相位。
9.根据权利要求8所述的方法,还包括:
从所述信号中提取所述吸收分量、所述相干分量或所述相位分量中的至少一个。
10.根据权利要求8至9中的任一项所述的方法,还包括:
基于所提取的所述吸收分量、所述相干分量或所述相位分量中的至少一个来重建吸收图像、相干图像或相位图像中的一幅或多幅。
11.根据权利要求8至9中的任一项所述的方法,其中,在每个整合周期期间,所述相位光栅或所述吸收器光栅中的所述至少一个连续地平移通过所述相位光栅或所述吸收器光栅中的所述至少一个的一个或多个光栅线周期。
12.根据权利要求8至9中的任一项所述的方法,还包括:
通过确定针对每个采样间隔的机架角度位置并利用所述机架角度位置来校正所述吸收器光栅的速度的变化来控制所述吸收器光栅以恒定的速度平移。
13.根据权利要求8至9中的任一项所述的方法,还包括:
相对于预定义整合间隔自适应地控制相位编码速度。
14.根据权利要求8至9中的任一项所述的方法,还包括:
相对于实际旋转的机架角度位置自适应地控制相位编码速度。
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