[发明专利]用于估计二次电池的参数的设备和方法

权利要求书

1.一种用于估计二次电池的参数的设备，所述设备包括：

传感器，其被配置为测量所述二次电池在第一放电深度(DOD')下的开路电压(OCV_m)，所述开路电压(OCV_m)对应于所述第一放电深度(DOD')下的预定原始正极电压(V_c,o)和负极电压(V_a)之差；

控制单元，其被配置为根据所述原始正极电压(V_c,o)和所述开路电压(OCV_m)计算负极电压(V_a)，确定原始负极电压(V_a,o)等于所述负极电压(V_a)，确定对应于所述原始负极电压(V_a,o)的第二放电深度(DOD″)，并且根据所述第一放电深度(DOD')和所述第二放电深度(DOD″)之差确定所述二次电池的容量退化(△capa)。

2.根据权利要求1所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述控制单元从所述原始正极电压的分布曲线和移位多达所述容量退化的所述原始负极电压的分布曲线获得所述二次电池的劣化的开路电压分布曲线。

3.根据权利要求2所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述控制单元测量所述二次电池的开路电压，并且使用所测量的开路电压根据所述劣化的开路电压分布曲线确定所述二次电池的放电深度(DoD)。

4.根据权利要求2所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述控制单元测量所述二次电池的放电深度(DoD)，并且使用所测量的放电深度(DoD)根据所述劣化的开路电压分布曲线确定所述二次电池的开路电压。

5.根据权利要求2所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述控制单元测量所述二次电池的放电深度(DoD)，并且使用所测量放电深度(DoD)和所确定的容量退化确定所述二次电池的充电状态(SOC)。

6.根据权利要求1所述的用于估计二次电池的参数的设备，所述设备还包括：

存储单元，其中存储根据放电深度(DoD)的变化的所述原始正极电压(V_c,o)的分布曲线数据和根据放电深度(DoD)的变化的所述原始负极电压(V_a,o)的分布曲线数据。

7.根据权利要求1至5中的任一项所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述控制单元存储、显示或传输所确定的容量退化、所确定的开路电压、所确定的放电深度(DoD)或所确定的SOC。

8.根据权利要求1所述的用于估计二次电池的参数的设备，

其中所述二次电池包括具有第一正极材料和第二正极材料的共混正极材料，以及

其中所述第一正极材料和所述第二正极材料具有不同的操作电压范围。

9.一种电驱动设备，其包括根据权利要求1至8中的任一项定义的用于估计二次电池的参数的设备。

10.一种用于估计二次电池的参数的方法，所述方法包括：

测量所述二次电池在第一放电深度(DOD')下的开路电压(OCV_m)，所述开路电压(OCV_m)对应于所述第一放电深度(DOD')下预定的原始正极电压(V_c,o)和负极电压(V_a)之差；

根据所述原始正极电压(V_c,o)和所述开路电压(OCV_m)计算负极电压(V_a)，并且确定所述原始负极电压(V_a,o)等于所述负极电压(V_a)；

获得对应于所述原始负极电压(V_a,o)的第二放电深度(DOD″)；并且

根据所述第一放电深度(DOD')和所述第二放电深度(DOD″)之差确定所述二次电池的容量退化(△capa)。

11.根据权利要求10所述的用于估计二次电池的参数的方法，所述方法还包括：

从所述原始正极电压的分布曲线和移位多达所述容量退化的原始负极电压的分布曲线获得所述二次电池的劣化的开路电压分布曲线。