[发明专利]测试探针及其加工方法

权利要求书

1.一种测试探针，包括：

柱塞端部，所述柱塞端部接触被测接触点；以及

多个尖端，所述尖端提供在所述柱塞端部中并且向被测接触点突起，所述多个尖端中的至少一个尖端是较高尖端，并且所述多个尖端中的至少另一个尖端是低于所述较高尖端的较低尖端。

2.根据权利要求1所述的测试探针，其中所述较高尖端和所述较低尖端沿圆周方向交替布置。

3.根据权利要求1所述的测试探针，其中在所述柱塞端部的中心区域中提供有不高于所述较高尖端的中心尖端。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试探针，其中所述尖端在圆周方向上布置，在中心留下无尖端的空白区域。

5.一种测试探针的加工方法，所述测试探针包括接触被测接触点的柱塞端部，所述加工方法包括：

以预定倾斜角处理所述柱塞端部的圆周表面以形成锥形倾斜表面；以及

在水平和垂直方向上相对所述柱塞端部的端表面执行间隔的多个并行的V型切割，以形成至少一个较高尖端和低于所述较高尖端的至少一个较低尖端。

6.根据权利要求5所述的加工方法，其中所述柱塞端部形成有沿中心轴的孔。

7.根据权利要求5或6所述的加工方法，还包括：在对所述锥形倾斜表面的处理操作之前或之后沿中心轴在所述柱塞端部上钻孔。

8.根据权利要求5或6所述的加工方法，其中所述锥形倾斜表面包括截头圆锥表面。

9.根据权利要求5或6所述的加工方法，其中所述锥形倾斜表面包括截头多角棱锥表面。