[发明专利]微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置

权利要求书

1.一种用于微粒测量装置的数据校正方法，包括：

强度检测过程，能够通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光，并且获得关于所述光的强度信息；

位置检测过程，能够获得关于所述微粒的位置信息；以及

校正过程，用于基于所述位置信息校正所述强度信息，

其中，在所述位置检测过程中，获得关于所述微粒在X轴方向上的位置信息和关于所述微粒在垂直于所述X轴方向和Y轴方向的Z轴方向上的位置信息作为所述位置信息，所述X轴方向是光到所述微粒的发射方向，所述Y轴方向是所述微粒的流动方向，

其中，在所述位置检测过程中，检测装置接收从由所述微粒产生的散射光中分离并被赋予了像散的S偏振分量的光，并且获得所述S偏振分量在所述检测装置上的光接收位置作为所述位置信息，

其中，在所述位置检测过程中，所述检测装置使用光接收表面被分为多个区域的检测装置，

其中，所述检测装置采用光接收表面被以格状方式分为区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域的检测装置，以及从所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)获得关于所述微粒在所述Z轴方向上的所述位置信息。

2.根据权利要求1所述的数据校正方法，其中，在所述位置检测过程中，从所述区域A和所述区域C中的检测值的和(A+C)与所述区域B和所述区域D中的检测值的和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))获得关于所述微粒在所述X轴方向上的所述位置信息。

3.根据权利要求2所述的数据校正方法，其中，在所述校正过程中，基于所述差分Δ1和/或所述差分Δ2校正所述强度信息。

4.根据权利要求2所述的数据校正方法，其中，在所述校正过程中，仅提取关于所述差分Δ1和/或所述差分Δ2在预定的范围内的所述微粒的所述强度信息。

5.根据权利要求3所述的数据校正方法，其中，四分部光电二极管被用作所述检测装置。

6.一种微粒测量装置，包括：

光照明单元，被配置为将光发射到流过流道的微粒上；

光检测单元，被配置为检测从所述微粒产生的光；

位置检测单元，被配置为获得关于所述微粒的位置信息；以及

算术计算单元，被配置为基于所述位置信息来校正由所述光检测单元获得的关于从所述微粒产生的光的强度信息，

其中，获得关于所述微粒在X轴方向上的位置信息和关于所述微粒在垂直于所述X轴方向和Y轴方向的Z轴方向上的位置信息作为所述位置信息，所述X轴方向是光到所述微粒的发射方向，所述Y轴方向是所述微粒的流动方向，

其中，所述位置检测单元包括：

第一分光器件，被配置为将从所述微粒产生的散射光分离成S偏振分量和P偏振分量；

S偏振检测装置，被配置为接收所述S偏振分量的光；以及

像散器件，设置在所述第一分光器件和所述S偏振检测装置之间以对所述S偏振分量赋予像散，并且

获得所述S偏振分量在所述S偏振检测装置上的光接收位置作为所述位置信息，

其中，所述S偏振检测装置的光接收表面被分为多个区域，

其中，所述S偏振检测装置的光接收表面被以格状方式分为四个区域，所述四个区域是区域A、区域B、区域C、和区域D，以及从所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)获得关于所述微粒在所述Z轴方向上的所述位置信息。

7.根据权利要求6所述的微粒测量装置，其中，所述算术计算单元基于以下项校正所述强度信息：

所述差分Δ1，和/或，

所述区域A和所述区域C中的检测值的和(A+C)与所述区域B和所述区域D中的检测值的和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))。