[发明专利]距离测量方法和距离测量元件

权利要求书

1.一种距离测量方法，至少包括：

·向目标物(2，13)发射至少一个测量信号(MS)，其中产生至少一个开始信号(S)；

·接收从目标物(2，13)反向散射的测量信号(MS)，作为目标信号(Z)；

·以一采样率采样所接收的目标信号(Z)，并且确定所述开始信号(S)和所述目标信号(Z)的相对位置，其中，所述目标信号(Z)在指派了所述采样率的采样模式的采样点处被采样；

·根据所述开始信号(S)和所述目标信号(Z)的所述相对位置，导出与所述目标物(2，13)的距离；

其特征在于，

所述采样率是能够调整的，并且按照依赖于与目标物的粗略距离的方式设置。

2.如权利要求1所述的距离测量方法，其特征在于，

所述采样率被设置为使得所述开始信号(S)和所述目标信号(Z)各自的位置相对于所述采样模式是相同的，从而所述开始信号和所述目标信号在各自信号波形的相同位置处被采样。

3.如权利要求1所述的距离测量方法，其特征在于，

所述方法是传播时间测量方法。

4.如权利要求1所述的距离测量方法，其特征在于，

所述至少一个测量信号(MS)包括光信号。

5.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

所述采样率是根据下面的关系中的一个设置的：

或者

其中，

f表示待设置的用于采样的采样率，

c表示光速，

D表示粗略距离，

N表示开始信号和目标信号之间的采样间隔的数量，

表示向下取整函数，和

表示开始信号和目标信号之间的采样间隔的数量的向上取整函数。

6.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

相对于所述目标信号(Z)，来确定综合距离误差。

7.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

相对于所述目标信号(Z)，通过所述目标信号(Z)在其位置方面偏移的线性插值来确定综合距离误差。

8.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

与所述目标物(2，13)的所述粗略距离是通过粗略距离测量确定的。

9.如权利要求8所述的距离测量方法，其特征在于，

对第一测量信号和第二测量信号执行发射、接收和采样，其中，粗略距离是根据所述第一测量信号导出的，并且用于对所述第二测量信号进行采样的采样率是按照依赖于上述确定的粗略距离的方式设置的。

10.如权利要求8所述的距离测量方法，其特征在于，

如果正被检测的反向散射的测量信号(MS)的强度超过预定的阈值，则通过正被检测的反向散射的测量信号(MS)，按照依赖于传播时间的方式确定与所述目标物(2，13)的粗略距离。

11.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

所述采样率取自其中粗略距离被指派有合适的采样率的表。

12.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

粗略距离到采样率的指派是基于以前的距离测量过程实现的。

13.如权利要求1或2所述的距离测量方法，其特征在于，

所述采样率改变，直到所述目标信号(Z)的采样点处的一阶导数最大为止。