[发明专利]再利用原料的采样法及装置、其分析用样品以及评价法

说明书

技术领域

本发明涉及一种对含有铁(Fe)和铝(Al)以外的有价金属，例如金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)、铂(Pt)、钯(Pd)等的再利用原料进行分析评价时所使用的再利用原料的采样方法及采样装置、再利用原料的分析用样品以及再利用原料的评价方法。

本申请基于2013年4月26日在日本申请的日本专利申请2013-094734号主张优先权，并将其内容援用于此。

背景技术

电子设备等中所使用的电子基板、柔性基板、IC芯片、移动电话等中含有金、银、铜、钯等。另外，照相胶片、电因此，提出有用于从再利用原料自动得到分析用样品的采样装置和采样方法。例如，专利文献1中公开有再利用原料的采样方法，该方法具备：对再利用原料进行破碎的工序；搅拌混合破碎物的1次混合工序；对搅拌混合的破碎物进行缩分的1次缩分工序；进一步粉碎被缩分的破碎物的粉碎工序；搅拌混合粉碎物的2次混合工序；及对搅拌混合的粉碎物进行缩分的2次缩分工序，并且将2次缩分工序后的粉碎物作为分析用样品。

在电子基板、IC芯片、移动电话、柔性基板、胶片及相纸等再利用原料中，由再利用原料中所含的有价金属的含量决定交易价格。在以人工手动作业进行从再利用原料收集分析用样品的作业的情况下，收集分析用样品时，分开收集有价金属稠化的部分和不含有价金属的部分，所以有时无法准确评价再利用原料。因此，交付再利用原料一方的评价和接收再利用原料一方的评价之间有可能产生背离。

因此，提出有用于从再利用原料自动得到分析用样品的采样装置和采样方法。例如，专利文献1中公开有再利用原料的采样方法，该方法具备：对再利用原料进行破碎的工序；搅拌混合破碎物的1次混合工序；对搅拌混合的破碎物进行缩分的1次缩分工序；进一步粉碎被缩分的破碎物的粉碎工序；搅拌混合粉碎物的2次混合工序；及对搅拌混合的粉碎物进行缩分的2次缩分工序，并且将2次缩分工序后的粉碎物作为分析用样品。

另外，专利文献2中提出有如下方法：用破碎机破碎再利用原料而作为1次破碎物，进一步用破碎机破碎该1次破碎物而作为2次破碎物，将该2次破碎物过筛后分选出大于30mm的破碎物，通过再次用破碎机破碎该破碎物，由此将30mm以下的破碎物，通过再次用破碎机破碎该破碎物，由此将30mm以下的破碎物收集为样品。

专利文献1：日本专利公开2010-223905号公报

专利文献2：日本专利公开2008-249437号公报

然而，再利用原料内，分别混合有1～25％左右的延展性较高的Fe屑和Al屑，例如电子基板上的集成电路和电容器、散热器等。因此，例如双辊破碎机、旋转破碎机等那样，粉碎再利用原料时所使用的通常的粉碎机中难以微粉碎延展性较高的Fe屑和Al屑，所以在混合有Fe屑和Al屑的状态下，也难以微粉碎Fe屑及Al屑以外的再利用原料部分。另一方面，Fe屑及Al屑以外的有价金属大量存在于Fe屑及Al屑以外的再利用原料部分，因此作为样品制作，优选对Fe屑及Al屑以外的再利用原料部分进行微粉碎。但是，如上述，由于再利用原料中除Fe屑及Al屑以外的再利用原料部分之外还混合有延展性较高的Fe屑和Al屑，因此仅使用上述的通常的粉碎机，则无法充分应对分析用样品的微细化的要求。另外，Fe屑和Al屑极为不均匀地存在于再利用原料内，即使以不均匀的状态实施采样，也无法避免偏析的影响，分析用样品的均质化也受到限制。

另外，若使用如涡轮粉碎机或者气流粉碎机等那样的冲击式粉碎机，即使为混合有Fe屑和Al屑的状态，也能够微粉碎再利用原料。但是，就冲击式粉碎机而言，再利用原料的处理量极少，不适合于从再利用原料自动得到分析用样品。

这样，一直以来使用上述通常的粉碎机微粉碎Fe屑及Al屑以外的再利用原料部分时有一定限制，并且Fe屑及Al屑的不均匀的影响易出现在分析用样品中，因此分析用样品的均质化受到限制。这一课题通过专利文献1和2所记载的采样方法也难以解决。

发明内容

本发明提供一种能够收集均质的分析用样品，且能够进行准确的评价的再利用原料的采样方法及采样装置、以及分析用样品。