[发明专利]具有正电子发射断层摄影中的散射的符合的衰减图有效

专利信息
申请号: 201380023309.6 申请日: 2013-04-23
公开(公告)号: CN104271045B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: Y·贝尔克;V·舒尔茨 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘瑜;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 具有 正电子 发射 断层 摄影 中的 散射 符合 衰减
【权利要求书】:

1.一种成像系统(36),包括:

正电子发射断层摄影(PET)扫描器(38),其生成包括真实符合事件和散射事件的事件数据,所述事件数据包括响应线(LOR)的每个端点和每个端点的能量;以及

一个或多个处理器(52),其被编程以:

基于所述真实符合事件来生成(72)多个活动图和衰减图对;并且

基于所述散射事件从所述多个活动图和衰减图对中选择(76)一活动图和衰减图对。

2.根据权利要求1所述的成像系统(36),其中,所述一个或多个处理器(52)还被编程以:

基于所述多个活动图和衰减图对中的每个来模拟(74)至少所述散射事件的分布;

基于经模拟的散射事件的分布与从记录的散射事件而构建的记录的散射事件的分布之间的比较来选择(76)所述活动图和衰减图对。

3.根据权利要求2所述的成像系统(36),其中,所述一个或多个处理器(52)还被编程以:

基于端点位置将散射事件的分布分解成衰减分量。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的成像系统(36),其中,所述一个或多个处理器(52)还被编程以:

基于以下中至少一项来重建(78)图像:

所述真实符合事件和所选择的活动图和衰减图对中的衰减图;或

所选择的活动图和衰减图对中的活动图。

5.根据权利要求1-3中的任一项所述的成像系统(36),其中,所述多个活动图和衰减图对包括基于所述真实符合事件的类似的分布。

6.根据权利要求3所述的成像系统(36),其中,所述分解包括作为活动的点源的体素。

7.根据权利要求2-3中的任一项所述的成像系统(36),其中,散射事件的所述分布包括计算的偏转角。

8.根据权利要求2-3中的任一项所述的成像系统(36),其中,散射事件的所述分布包括偏转角的偏移的发生频率。

9.根据权利要求1-3中的任一项所述的成像系统(36),其中,散射事件包括190keV到509keV之间的能量和大于或等于4.2°的响应线(LOR)偏转。

10.一种成像的方法,包括:

接收(70)包括真实符合事件和散射事件的事件数据,所述事件数据包括响应线(LOR)的每个端点和每个端点的能量;

基于所述真实符合事件来生成(72)多个活动图和衰减图对;以及

基于所述散射事件从所述多个活动图和衰减图对中选择(76)一活动图和衰减图对。

11.根据权利要求10所述的方法,还包括:

基于所述多个活动图和衰减图对中的每个来模拟(74)至少所述散射事件的分布;以及

基于经模拟的散射事件的分布与从记录的散射事件而构建的记录的散射事件的分布之间的比较来选择(76)所述活动图和衰减图对。

12.根据权利要求11所述的方法,还包括:

基于端点位置将散射事件的分布分解成衰减分量。

13.根据权利要求10-12中的任一项所述的方法,还包括:

基于以下中的至少一项来重建(78)图像:

所述真实符合事件和所选择的活动图和衰减图对中的衰减图;或

所选择的活动图和衰减图对中的活动图。

14.根据权利要求10-12中的任一项所述的方法,其中,散射事件的分布包括计算的偏转角。

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