[发明专利]用于多维独立磁盘冗余阵列的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201380015047.9 申请日: 2013-03-21
公开(公告)号: CN104272261A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: J·S·邦威克 申请(专利权)人: DSSD股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 多维 独立 磁盘 冗余 阵列 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种包括指令的非暂时性计算机可读介质,所述指令在被执行时执行一种用于存储数据的方法,所述方法包括:

接收写入数据的请求;

响应于所述请求,选择独立磁盘冗余阵列(RAID)网格中的RAID网格位置来写入所述数据;

将所述数据写入存储器,其中所述数据被临时存储于所述存储器中;

更新数据结构以表明所述RAID网格位置已被填充;

使用所述数据结构确定所述RAID网格中的数据网格是否被填充,其中所述RAID网格位置位于所述数据网格中;

基于所述数据网格已被填充的确定:

使用所述数据为所述RAID网格计算奇偶校验位值,其中所述RAID网格包括行Q奇偶校验位组、行P奇偶校验位组、列Q奇偶校验位组、列P奇偶校验位组和交叉奇偶校验位组,其中每一奇偶校验位值与由行Q奇偶校验位组、行P奇偶校验位组、列Q奇偶校验位组、列P奇偶校验位组和交叉奇偶校验位组组成的组中选择的一个奇偶校验位组相关联,且其中与所述交叉奇偶校验位组相关联的奇偶校验位值是使用来自自行Q奇偶校验位组、行P奇偶校验位组、列Q奇偶校验位组、列P奇偶校验位组和交叉奇偶校验位组组成的组中选择的至少一个奇偶校验位组的奇偶校验位值来计算;

确定对应于所述RAID网格位置的永久存储器中的物理地址;

将所述数据写入至对应于所述物理地址的永久存储器中的物理位置;以及

将所述奇偶校验位值写入至所述永久存储器。

2.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质,所述方法还包括:

确定RAID立方体的数据部分是否被填充,其中所述数据部分包括多个RAID网格,其中所述RAID网格是所述多个RAID网格之一;

基于所述数据部分被填充的确定:

使用所述数据部分中的值来为所述RAID立方体的奇偶校验部分计算奇偶校验位值;以及

将所述奇偶校验部分的奇偶校验位值写入至永久存储器。

3.如权利要求2所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述奇偶校验部分包括P奇偶校验RAID网格和Q奇偶校验RAID网格。

4.如权利要求2所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述RAID立方体包括第一维度、第二维度和第三维度,其中所述第一维度与第一独立故障域相关联,所述第二维度与第二独立故障域相关联,及所述第三维度与第三独立故障域相关联。

5.如权利要求4所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述永久存储器中的物理位置至少部分使用所述第一独立故障域、所述第二独立故障域和所述第三独立故障域来指定。

6.如权利要求4所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述永久存储器包括多个存储模块,其中所述多个存储模块的每一个包括固态存储器,且其中所述第一独立故障域是所述多个存储模块,所述第二故障域是所述多个存储模块的每一个中的多个通道,其中所述第三故障域是所述多个存储模块的每一个中的多个NAND管芯。

7.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述奇偶校验位值包括从由P奇偶校验位值、Q奇偶校验位值和交叉奇偶校验位值组成的组中选择的至少一个值。

8.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述RAID网格包括第一维度和第二维度,其中所述第一维度与第一独立故障域相关联,所述第二维度与第二独立故障域相关联。

9.如权利要求8所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述永久存储器中的物理位置至少部分使用所述第一独立故障域和所述第二独立故障域来指定。

10.如权利要求9所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述永久存储器包括多个存储模块,其中所述多个存储模块的每一个包括固态存储器,且其中所述第一独立故障域是所述多个存储模块,及所述第二故障域是所述多个存储模块的每一个中的多个通道。

11.如权利要求9所述的非暂时性计算机可读介质,其特征在于,所述永久存储器包括多个存储模块,其中所述多个存储模块的每一个包括固态存储器,且其中所述第一独立故障域是所述多个存储模块的每一个中的多个通道,及所述第二故障域是所述多个存储模块的每一个中的多个NAND管芯。

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