[发明专利]亮度测量方法、亮度测量装置和使用它们的画质调整技术

说明书

技术领域

本发明涉及测量显示面板的各像素的亮度的亮度测量方法和亮度测量装置、以及使用它们的画质调整技术。

背景技术

已知在液晶面板或有机EL面板等显示面板中因制造上的偏差而产生显示不均(亮度不均、颜色不均)。在显示面板的各像素(pixel)具有R、G、B子像素的情况下，虽然各个像素中R、G、B的相对明亮度的关系并没有不同，但是在接近的像素间当绝对明亮度存在差异时会形成亮度不均。此外，在各个像素中R、G、B的相对明亮度的关系在接近的像素间不同时会形成颜色不均。特别是在有机EL面板中，由于难以使每个像素的有机化合物层的厚度均匀，所以因层厚不一致而容易产生显示不均，不容易实现大画面化。

作为减少上述的显示不均来改善显示面板的画质的技术，例如有专利文献1中记载的亮度测量方法。在该方法中，使显示面板的全部像素(该文献中的“画素(像点)”)点亮，在CCD照相机的多个拍摄点拍摄各像素(参照该文献的图5)，基于该多个拍摄点的亮度数据计算像素的亮度。使用计算出的每个像素的亮度来生成使显示不均减少的修正数据，并根据该修正数据对显示面板的输入信号进行修正，由此能够改善显示面板的画质。

专利文献1：日本特开2010-203889号公报

然而，在专利文献1中，虽然以显示面板的各像素在照相机的拍摄面上独立地形成像、相邻像素的像彼此不重合为前提，但是实际上相邻像素的像因照相机的透镜像差等原因而彼此重合。因此，为了精确地测量像素的亮度，不能直接使用该像素的像所在的拍摄面上的画素的输出，必须去除与该像素相邻的像素对所述画素施加的影响。

另一方面，为了避免相邻像素的像彼此重合，即使使像素逐个点亮来依次测量亮度，一般而言，像素的亮度在使其个别点亮的情况和整体点亮的情况(使全部像素同时点亮的情况)下也不同，因此即使使用使像素逐个点亮并测量的亮度来生成用于减少显示不均的修正数据，也无法很好地消除显示不均。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种亮度测量方法、亮度测量装置和使用它们的画质调整技术，使得即使显示面板的像素的像在照相机的拍摄面上重合，也能够精确地测量各像素的亮度。

为了解决上述问题，本发明的第一方面是亮度测量方法，包括：单像素拍摄步骤，在利用具有固体拍摄元件的照相机对显示面板的像素进行拍摄时，使上述显示面板的一个或多个像素点亮并利用上述照相机进行拍摄，使得在上述照相机的拍摄面上像素的像遍及多个画素并且像素的像彼此不重合；曝光系数计算步骤，基于与在上述单像素拍摄步骤中拍摄的像素的像的中心部对应的一个或多个画素的输出，计算表示上述像素的像的中心部亮度占上述像素的像的整体亮度的比例的中心曝光系数，并且基于与上述像素的像的周边部对应的一个或多个画素的输出，计算表示上述像素的像的周边部亮度占上述像素的像的整体亮度的比例的周边曝光系数；全部像素拍摄步骤，使上述显示面板的全部像素点亮，并利用上述照相机进行拍摄；和亮度计算步骤，基于上述全部像素拍摄步骤中的拍摄图像、以及上述中心曝光系数和上述周边曝光系数，计算上述显示面板的全部像素的亮度。

本发明的第二方面是第一方面所述的亮度测量方法，其中，包括：校准步骤，利用上述照相机对使上述显示面板的规定像素点亮而成的校准图案进行拍摄，并检测上述校准图案的像呈现在上述照相机的哪个画素，由此求取上述显示面板的像素与上述照相机的画素的对应关系。

本发明的第三方面是第一方面或第二方面所述的亮度测量方法，其中，包括：放大拍摄步骤，通过与上述单像素拍摄步骤相比对上述像素进行放大拍摄，求取用于计算上述中心曝光系数和上述周边曝光系数的上述像素的像的整体亮度。