[发明专利]用于识别自生成杂散信号的方法

说明书

技术领域

本发明整体涉及用于测试电子装备的系统和方法。本发明特别涉及对采用由硬件、固件和/或软件部分组成的测试平台来测试无线设备的系统和方法的改进。

背景技术

目前的许多手持设备将无线“连接”用于电话技术、数字数据传送、地理定位等。尽管频谱、调制方法和功率谱密度存在差异，但无线连接标准都采用同步数据包来发送和接收数据。一般来讲，所有这些无线性能由行业许可标准(如IEEE 802.11和3GPP LTE)定义，这些标准规定了具有那些性能的设备必须遵守的参数和限制。

在设备开发连续过程的任何时间点，可能需要测试和验证设备是否在其标准规范内运行。许多这样的设备为收发机；也就是说，它们发射和接收无线射频(RF)信号。设计用来测试此类设备的专门系统通常包括子系统，这些子系统被设计用来接收并分析设备所发送的信号(例如矢量信号分析仪(VSA))以及发送符合行业许可标准的信号(例如矢量信号发生器(VSG)))，以便确定设备是否根据其标准接收并处理无线信号。

此类测试系统通常生成预期信号连同杂散信号(或非预期信号)，也称为“寄生信号”。此类杂散信号通常与测试仪中现有信号的基频以及这些基频的谐波相关。例如，与另一信号“混合”的本机振荡器(LO)将产生其基频和与之混合的另一信号频率的和频和差频。LO还可以产生为其基频两倍的二次谐波。这同样可以与另一个信号混合，产生和信号产物与差信号产物，以此类推。通常，此类杂散信号比处于所关注频率的预期信号处于低得多的功率电平。

然而，在例如对功率谱密度进行分析的测试中，频谱掩模可相当宽，而仪器生成的杂散信号可在频谱掩模的边界附近与待测设备(DUT)所生成的信号的功率大小处于相同的数量级。如果不将那些杂散信号与来自DUT的信号加以区分，则它们会使分析得出不好的结果，诸如功率谱密度分析失败。

一般来讲，当识别出由测试仪生成的杂散信号时，可使用数字信号处理(DSP)过滤技术将它们消除。然而，“挑出”或消除已知的仪器杂散信号还可能挑出或消除可能碰巧与测试仪的杂散信号处于相同频率的DUT信号。不对DUT的信号产物加以识别并将它们与测试仪的杂散信号进行分组可能在后续信号分析中带来困难和不准确性。例如，如果对DUT的杂散信号进行分组并与测试仪的杂散信号一起消除，则当事实上DUT可能实际上不能通过功率谱密度分析的情况下，DUT反而可能通过测试。因此，测试系统的信号捕获以及后续信号分析可能不准确并得出错误的结果，包括(例如)按标准所规定的测试结果准则得出假阳性或假阴性。

理想的是，有利地利用不生成杂散信号的测试仪。然而，实际情况是，这对于所有测试场景而言可能是不现实的。因此，需要识别仪器生成的杂散信号并将它们与来自测试系统中配置的一个或多个DUT的信号产物区分开来。还需要确保对测试结果(诸如功率谱密度分析结果)的分析不受仪器寄生信号的影响，以及确保测试结果具有提高的准确性。

发明内容

因此，本发明的目标是克服现有技术的缺陷，提供用于识别仪器生成的杂散信号并将它们与DUT的信号产物区分开来的方法和系统。根据本发明所公开的示例性实施例，提供了用于识别自生成杂散信号的方法，该方法在本发明的至少一些方面包括将测试系统的本机振荡器设为初始频率并将来自待测设备(DUT)的射频(RF)信号发送到测试系统。该方法还可以用测试系统测量RF信号的物理模拟特性。实施例包括将测得的物理特性的模拟值转换成数字对等值，将测得的物理特性结果相对于功率-频率轴来显示，在显示图中识别杂散信号产物并注意杂散信号产物的振幅和频率。本发明的另外方面可包括将测试系统的本机振荡器重设为与初始频率偏移的一个或多个后续频率，并将来自DUT的一个或多个后续RF信号发送到测试系统，其中DUT维持原始物理信号设置。该方法还可以提供：用测试系统测量所述一个或多个后续RF信号的相应物理模拟特性，将测得的相应物理特性的模拟值转换成对所述一个或多个后续LO频率每一个的数字对等值，以及相对于功率-频率轴显示所述一个或多个后续LO频率每一个的测得的相应物理特性结果。可显示对所述一个或多个后续LO频率每一个的杂散信号产物。实施例提供：注意对所述一个或多个后续LO频率每一个的杂散信号产物的振幅和频率，以及识别对所述一个或多个后续LO频率每一个中发生了频移的杂散信号产物作为自生成信号产物。

为了更好地理解本文对本发明的详细描述，并且为了更好地认识本发明对现有技术的贡献，对本发明的某些实施例进行了相对广义地概括。当然，还存在以下将描述的本发明的附加实施例，并且这些实施例将成为所附权利要求的主题。