[发明专利]树脂膜的劣化检测方法及树脂模的劣化检测装置

权利要求书

1.一种树脂膜的劣化检测方法，检测外周部由树脂膜包覆的树脂包覆绳索的所述树脂膜的劣化，其包括：

在所述树脂包覆绳索的所述外周部缠绕线状物的工序；

对所述线状物赋予张力，在所述树脂包覆绳索的径向上压缩所述树脂膜的工序；以及

通过比较第一关系和第二关系来判定所述树脂膜的劣化状态的工序，其中所述第一关系是压缩所述树脂膜的工序中的所述线状物的所述张力和所述树脂膜的压缩量之间的关系，所述第二关系是预先作为基准而确定的、所述线状物的所述张力和所述树脂膜的所述压缩量之间的关系。

2.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

在压缩所述树脂膜的工序中，通过对所述线状物的一端侧施加位移而使所述树脂膜被压缩。

3.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

在压缩所述树脂膜的工序中，通过对所述线状物的两端侧施加位移而使所述树脂膜被压缩。

4.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

所述第二关系是使用前的所述树脂包覆绳索上的所述线状物的所述张力和所述树脂膜的所述压缩量之间的关系。

5.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

所述第一关系是在压缩所述树脂膜的工序中对所述树脂膜赋予规定的所述压缩量所必需的所述线状物的所述张力的值，

所述第二关系是预先作为基准而确定的、对所述树脂膜赋予规定的所述压缩量所必需的所述线状物的所述张力的值。

6.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

所述第一关系是在压缩所述树脂膜的工序中对所述线状物赋予规定的所述张力所必需的所述树脂膜的所述压缩量，

所述第二关系是预先作为基准而确定的、对所述线状物赋予规定的所述张力所必需的所述树脂膜的所述压缩量。

7.根据权利要求1所述的树脂膜的劣化检测方法，其中，

所述第一关系是在压缩所述树脂膜的工序中对所述线状物赋予规定的所述张力，并将此时所赋予的所述树脂膜的所述压缩量保持一定时间，从经过一定时间前开始到经过一定时间后的所述线状物的所述张力变化量，

所述第二关系是预先作为基准而确定的、对所述线状物赋予规定的所述张力，并将此时所赋予的所述树脂膜的所述压缩量保持一定时间，从经过一定时间前开始到经过一定时间后的所述线状物的所述张力变化量。

8.一种树脂膜的劣化检测装置，其检测外周部由树脂膜包覆的树脂包覆绳索的所述树脂膜的劣化，其包括：

固定部，其固定所述树脂包覆绳索和所述树脂膜的劣化检测装置的相对位置关系；

保持部，其能够保持缠绕于所述树脂包覆绳索的所述外周部的线状物；

张力赋予部，其对所述线状物赋予张力；

张力检测部，其检测赋予给所述线状物的所述张力；以及

位移检测部，其检测所述线状物的位移量。

9.根据权利要求8所述的树脂膜的劣化检测装置，其中，

所述张力赋予部通过对所述线状物的一端侧赋予位移，来对所述线状物赋予所述张力。

10.根据权利要求8所述的树脂膜的劣化检测装置，其中，

所述张力赋予部通过对所述线状物的两端侧赋予位移，来对所述线状物赋予所述张力。