[发明专利]触控面板的位置检测方法及触控面板

说明书

技术领域

本发明涉及一种触控面板的位置检测方法及触控面板。

背景技术

在现今普及的电子设备中，有很多是搭载有触控面板的电子设备。触控面板是可通过使手指等直接接触触控面板而对电子设备进行信息输入，作为简易的信息输入单元，今后将可期望进一步的普及。

然而，一般的触控面板大部分是在接触点为一点时进行接触位置的位置检测。因此，当触控面板的接触点为两点以上时，无法检测出正确的接触点的位置信息。因此，需要一种即便在接触点为两点时也可检测出各个接触点的正确的位置信息的方法。

作为对触控面板的接触点为两点时的接触点进行检测的方法，由下述专利文献1至17揭露了各种方法。具体而言，揭露了利用接触第一点及第二点的微小的时间差的方法、在触控面板的导体膜连接电阻的方法、在X侧电极与Y侧电极之间施加电压的方法等。

另外，在下述专利文献12中，揭露了检测在两点按下时的两点间的距离信息的方法。另外，在下述专利文献14中，揭露了将电阻膜分割的结构。另外，在下述专利文献17中，揭露了使用两组电阻膜的结构。另外，在下述专利文献18、19中，揭露了对一点输入中的歪斜进行校正的方法。

<现有技术文献>

<专利文献>

专利文献1：(日本)特许第3402858号公报

专利文献2：(日本)特开2009-289157号公报

专利文献3：(日本)特许第3397519号公报

专利文献4：(日本)特开平8-54976号公报

专利文献5：(日本)特开平3-77119号公报

专利文献6：(日本)特开平10-171581号公报

专利文献7：(日本)特开平11-95929号公报

专利文献8：(日本)特开平1-269120号公报

专利文献9：(日本)特开平8-241161号公报

专利文献10：(日本)特开平8-54977号公报

专利文献11：(日本)特开2007-156875号公报

专利文献12：(日本)特开2009-176114号公报

专利文献13：(日本)特许第3351080号公报

专利文献14：(日本)特开平9-45184号公报

专利文献15：(日本)特开2005-49978号公报

专利文献16：(日本)特开2010-102627号公报

专利文献17：(日本)特开平11-232023号公报

专利文献18：(日本)特开2001-67186号公报

专利文献19：(日本)特许第2554577号公报

专利文献20：(日本)特开2011-76591号公报

专利文献21：(日本)特开2011-123815号公报

专利文献22：(日本)特开2011-134316号公报

发明内容

<本发明所要解决的技术问题>

在上述对触控面板所接触的两点位置信息进行检测的方法中，当同时接触两点时，存在无法正确地检测出两点的位置坐标的问题，以及为了检测出两点的位置信息需要形成分割电阻膜的结构、或设置两组电阻膜的结构等特殊的构造，在此情况下存在成本上升的问题。

因此，在以往使用的四线式触控面板中，需要一种即便是在同时于两点接触时也可简单、低成本地检测出各个坐标位置的位置检测方法。

<用于解决技术问题的方案>

根据本发明之一个方面，提供一种触控面板的位置检测方法，所述触控面板包括：第一电阻膜，在第一方向的两端设有第一电极及一第二电极；第二电阻膜，在与所述第一方向正交的第二方向的两端设有第三电极及一第四电极，其特征在于，在对所述第一电极施加电源电压、并将所述第二电极接地的状态下，测定所述第一电极的电位，求出所述第一方向上两点接触点的距离；在对所述第三电极施加电源电压、并将所述第四电极接地的状态下，测定所述第三电极的电位，求出所述第二方向上两点接触点的距离；并且基于由所述第三电极的电位所得到的所述第二方向上的两点接触点的距离，对由所述第一电极的电位所得到的所述第一方向上的两点接触点的距离进行校正。

<发明的效果>

根据本发明的一个实施例，能够提供一种在四线式的触控面板中，即便是在同时于两点接触时也可简单、低成本地、更准确地检测出各个坐标位置的触控面板的位置检测方法及触控面板。