[发明专利]X射线检测子模、X射线检测模块以及X射线CT装置

说明书

技术领域

本发明的实施方式涉及X射线检测子模、X射线检测模块以及X射线CT装置。

背景技术

X射线CT装置被构成为具备隔着被检体相对配置的X射线源以及X射线检测器。X射线检测器被构成为沿着与作为体轴方向的顶板的长度方向正交的方向(通道方向)，具备多个沟道(M通道)的检测元件。

可以使用各种类型来作为X射线检测器，在X射线CT装置中，一般使用可小型化的闪烁检测器。该闪烁检测器的各检测元件具备闪烁器和光电二极管(PD：Photo Diode)等光传感器。闪烁器在前段吸收被校准的X射线，通过此吸收来产生荧光。PD通过光传感器将荧光转换成电信号，并输出至数据收集装置(DAS：Data Acquisition System)。

即，根据X射线CT装置，从X射线源对被检体所在的剖面(以下称为切面)扇状地照射X射线光束，按X射线检测器的检测元件，将从被检体所在的切面透射的X射线光束转换成电信号并收集透射数据。

此外，X射线CT装置中包括单切片X射线CT装置和多切片X射线CT装置。上述X射线CT装置沿通道方向具备M通道的X射线检测器，沿体轴方向构成1列，被称为单切片X射线CT装置。

与此相对，多切片X射线CT装置与单切片X射线CT装置相比较，构成为在X射线检测器具备M通道的检测元件，此外还沿着被检体的体轴方向具备多个列(N列)的检测元件。即，多切片X射线CT装置的X射线检测器被构成为整体上具有M通道×N列的检测元件的X射线CT用二维检测器(例如，参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1日本特开2003－121551号公报

发明所要解决的课题

再者，在以往的多切片X射线CT装置中，具有M通道×N列的检测元件的X射线检测器在通道方向和体轴方向上排列，通过X射线检测器以及DAS，形成对X射线进行检测的X射线检测部。此外，X射线检测器和DAS是分开构成的，并被构成为通过软电缆连接。

由于近年的X射线CT装置中的多列化，该X射线检测部在各系统中的检测元件数的增大显著。因此，为了处理增大的X射线检测部的输出信号，需要高效地配置包含于处理该输出信号的DAS的ADC芯片。此外，今后，在向高精细化转移的情况下，预计X射线检测部的检测元件数将进一步增大。

在此，在以往的连接方法中，安装检测元件的基板上存在安装面积和容积的上限，因此，在安装搭载了ADC芯片的ADC基板的情况下，安装数量上存在制约。此外，即使假设能够安装ADC基板，从检测元件到ADC基板的信号配线距离也会变长，所存在的问题是：容易受到外来干扰，并且信号的准确度降低。

附图说明

图1为表示本实施方式的X射线CT装置的硬件构成图。

图2为表示本实施方式的X射线管和X射线检测器的构成的说明图。

图3为对本实施方式的X射线检测子模的构成加以说明的说明图。

图4为表示通过本实施方式的X射线CT装置来照射X射线，并生成所希望的切片图像的图像数据的图像数据生成处理的流程图。

图5为对通过形成本实施方式的X射线检测模块的一部分的4个X射线检测子模的构成，沿列方向(相对于图5的纸面从右侧至左侧方向)输出原始数据的方法加以说明的说明图。

图6为对通过形成本实施方式的X射线检测模块的一部分的4个X射线检测子模的构成，沿通道方向(相对于图6的纸面而言从左侧向右侧方向)输出原始数据的方法加以说明的说明图。

具体实施方式

参照附图，对本实施方式的X射线检测子模、X射线检测模块以及X射线CT装置加以说明。

本实施方式的X射线检测子模具备：基板；光电二极管，安装在基板上；X射线检测元件，对X射线进行检测并转换为光；光导波路，设于光电二极管与X射线检测元件之间，光导波路以基板相对于X射线检测元件的X射线检测面倾斜配置的方式，连接X射线检测元件和光电二极管。

由此，X射线检测子模不仅能够减少外来干扰的产生，还能够使通过X射线检测元件所检测的信号的处理变得容易，提高空间利用效率，并能够应对X射线检测元件数的增大化。

此外，本实施方式的X射线检测模块为具有多个X射线检测子模的X射线检测模块，其特征在于，多个X射线检测子模分别具备：基板；光电二极管，安装在基板上；X射线检测元件，对X射线进行检测并转换为光；光导波路，设于光电二极管与X射线检测元件之间，并且光导波路以基板相对于X射线检测元件的X射线检测面倾斜配置的方式，连接X射线检测元件和光电二极管。