[发明专利]多通道系统测试方法及装置

说明书

本发明提供一种多通道系统测试方法及装置，包括：对至少一路原始数据块信号进行非相关处理，得到N路非相关测试模块子信号；将N路非相关测试模块子信号一对一地通过N个发射通道发射；N为自然数。由于通过非相关处理后得到的N路非相关测试模块子信号，其测得ACLR(θ,φ)或者EVM(θ,φ)能等效于单通道系统的测试参数，所以能够准确的体现多通道系统的射频指标，避免受到各发射通道的影响。依据N路非相关测试模块子信号对多通道的射频指标进行测量，其测量结果避免了各发射通道的相关度对多通道系统的测量结果的影响，有效地提高了测量的效率，在保证测量准确的同时，降低了测量的成本。

技术领域

本发明涉及通信技术，尤其涉及一种多通道系统测试方法及装置。

背景技术

为了保证多通道基站能够正常地传输信号，需要对基站的射频指标进行测量。其中较为重要的射频指标包括：邻道功率泄露比（Adjacent Channel power Leakage Ratio；简称ACLR），误差矢量幅度(Error Vector Magnitude简称:EVM)，以及发射功率等。其中，ACLR为目标信道中的平均功率和一个相邻信道内(已滤波)的平均功率之比。泄露到相邻信道中的功率主要来自于发射机的非理想性如谐波、寄生、互调和变频等作用。

EVM为信号调制质量的指标，通过测量接收到的信号的EVM指标，可以发现信号在调制过程中或在传输过程中受到的损伤。通常EVM定义为参考信号和实际发送信号之间的幅度差异。

发射功率表征设备输出功率信号的能力，而对于安装了多天线系统的多通道基站系统，发射功率在空间中可以通过场强来测定，根据多通道发射信号的相关性的不同，发射功率在空间中呈现不同的方向性。多通道系统的其它的一些射频特性，如杂散等，也有类似的空间方向性特征。

图1为传统基站目标信道内的有用信号和带外辐射信号的天线方向图，参照图1，对于单发射通道传统基站1，由于带外辐射是由一条射频通道产生的，该带外辐射信号传输到各个无源天线单元2是一样的，即信号完全相关，因此带外辐射受天线内的相移网络作用，形成与目标信道内有用信号一样的天线方向图。

图2为多通道基站目标信道内的有用信号和带外辐射信号的天线方向图，参照图2，对于多通道基站3，其具有多个有源收发通道4，每个有源收发通道4和一个或者多个无源天线单元2直接相连。多通道基站的带外邻道辐射功率包含两部分：相关带外辐射和非相关带外辐射。相关带外辐射表明带外辐射信号在所有发射通道上都是相关一样的，通过相移和幅度调整，可以形成具有较强方向性的天线方向图。非相关带外辐射主要来源于热噪声，以及各发射通道不一致带来的失真等，而该非相关带外辐射信号在各条通道上相互独立且不相关，因此其天线方向图为各条通道所连接的单阵子/子阵列天线方向图，如图2所示。这样有用信号和带外辐射信号的天线方向图不一致，导致多通道系统的ACLR在空间各处不一致。对于EVM也有类似的现象。但是，与ACLR不同的是，EVM的方向性是由于多通道系统带内的失真和有用信号的方向性不同而造成的。多通道系统带内的失真之间可能是部分相关的。

控制和获知各通道的相关度是困难的。现有技术中，需要逐一对多通道基站的每一个通道的射频指标进行测量。这样导致测量的成本较高、效率低。

发明内容

本发明提供一种多通道系统测试方法及装置，用于准确测量多通道系统的指标，提高测量效率，降低测量成本。

本发明的第一个方面是提供一种多通道系统测试方法，包括：

对至少一路原始数据块信号进行非相关处理，得到N路非相关测试模块子信号；

将N路所述非相关测试模块子信号一对一地通过N个发射通道发射；所述N为自然数。

结合本发明第一个方面，在第一种可能的实现方式中，所述对至少一路原始数据块信号进行非相关处理，得到N路非相关测试模块子信号，包括：