[实用新型]棒材相控阵检测系统性能评价试块有效
| 申请号: | 201320890924.4 | 申请日: | 2013-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN203688508U | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
| 发明(设计)人: | 李杨;高东林;陈泉;吴海燕;张伦兆;吴洋林;袁琪 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
| 主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
| 代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 朱丽华 |
| 地址: | 100088 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 相控阵 检测 系统 性能 评价 | ||
1.一种棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于包括有一组轴向系列样块和/或一组周向系列样块;
所述的轴向系列样块和周向系列样块均由待测棒材或与待测棒材直径相同或相近的棒材加工而成;
所述的一组轴向系列样块中具有一个以上的轴向样块,各轴向样块由所述棒材纵剖截取而成,其具有的两侧纵切面的间距与相控阵探头的阵列宽度一致;所述各轴向样块的纵切面上至少具有一种人工缺陷组;
所述的一组周向系列样块中具有一个以上的周向样块,各周向样块为由所述棒材横截而成的圆饼状样块,圆饼状样块的厚度与相控阵探头的阵列宽度一致;所述的各周向样块横截面上至少具有一种人工缺陷组;
各轴向样块和周向样块与相控阵探头的接触面为一曲面,该曲面的曲率与待测棒材曲面曲率相同或相近。
2.根据权利要求1所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于:所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块包括有一组轴向系列样块和一组周向系列样块,两组中分别具有的人工缺陷组种类相同。
3.根据权利要求1所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于所述的人工缺陷组包括如下7个种类:
1)用于扇扫成像纵向分辨力研究和评价的缺陷组;
2)用于扇扫成像横向分辨力研究和评价的缺陷组;
3)用于短缺陷分辨力研究和评价的缺陷组;
4)用于成像横向几何尺寸测量误差分析和评价的缺陷组;
5)用于成像纵向几何尺寸测量误差分析和评价的缺陷组;
6)用于相控阵扫描聚焦深度研究的缺陷组;
7)用于扇扫角度范围测量误差及扇扫角度分辨力分析的缺陷组。
4.根据权利要求1所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于:所述轴向样块由所述棒材纵剖截取而获得的两侧纵切面是以过轴心平面为对称中心。
5.根据权利要求1所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于:所述一组轴向系列样块为一个集全部或部分人工缺陷组的一体式轴向样块。
6.根据权利要求1所述的棒材相控阵检测系统性能评价试块,其特征在于:所述一组轴向系列样块由两个以上的分体轴向样块组合构成,每个轴向样块上具有一个以上的人工缺陷组,各分体轴向样块上的人工缺陷组互不相同,所有分体轴向样块上的人工缺陷组的集合为全部或部分种类的人工缺陷组。
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