[实用新型]一种放电电弧位置自动调整装置有效

专利信息
申请号: 201320869531.5 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN203732751U 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 杨小光;张伟;孙海华;尚守锋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G02B6/255 分类号: G02B6/255
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 233010 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 放电 电弧 位置 自动 调整 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及光纤熔接机部件,具体为一种放电电弧位置自动调整装置。

背景技术

光纤通信中,普遍使用光纤熔接机对光纤进行永久性接续。目前,业界主流的光纤熔接机都包括以下四个部分:图像采集与显示、光纤推进、控制单元、高压放电部分。进行光纤熔接时,左、右光纤完成对准后,两光纤端面位于显示画面的中心位置,电极尖端的中心线初始位置也位于显示画面中心位置,此时进行熔接放电,电弧中心线与两光纤端面重合,是光纤最佳熔接位置。

精准的放电电弧位置直接影响光纤接续质量。目前,通信领域应用最广泛的单模光纤的纤芯直径仅为9μm左右,由于环境温湿度的变化等原因造成电极尖端的位置变化,造成放电电弧位置的偏移,需要及时进行电弧位置校准,否则会影响光纤的接续质量。

目前,光纤熔接机一般采用调整电极位置来实现对电弧位置的调整,调整电极位置具体包括以下两种方法。一种是将两个电极固定到一个安装座上,使用螺钉将安装座固定到仪器特定位置。进行调整时,先松开螺钉,再人为整体移动安装座,最后将安装座固定好。由于熔接位置要求的精度在微米数量级,因此需要反复调整,费时费力,对操作人员要求很高。另外一种方法是每个电极使用一个夹持机构固定,驱动装置采用步进电机,步进电机的输出端与夹持机构之间通过传动机构连接,通过步进电机实现对夹持机构的调节,进而改变电弧位置。这种方法设计复杂,额外增加了很多需要精密加工的零件,增加了光纤熔接机成本和故障率。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种放电电弧位置自动调整装置,以解决现有技术放电电弧位置调整精度低和故障率高的问题。

为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案为:

一种放电电弧位置自动调整装置,包括左、右对称设置并分别可滑动的光纤熔接机的光纤夹具,其特征在于:还包括有ARM9处理器、CMOS图像传感器、光纤熔接机的高压放电电路,所述CMOS图像传感器的采集面配置有显微镜,且CMOS图像传感器的采集面对准两光纤夹具之间,CMOS图像传感器的信号输出端接入ARM9处理器,所述高压放电电路控制端接入ARM9处理器,高压放电电路的输出端通过高压电缆电接入有一对电极,两电极分别设置在两光纤夹具之间且位置相对,所述ARM9处理器上还接入有显示器。

所述的一种放电电弧位置自动调整装置,其特征在于:还包括有步进电机、凸轮,所述步进电机控制端接入ARM9处理器,所述凸轮与步进电机传动连接,电机带动凸轮旋转,凸轮的向径不断变化,夹具座紧靠在凸轮上,凸轮向径变化带动夹具座移动。光纤夹具通过螺钉固定在光纤夹具座上,夹具座移动时光纤夹具也同时运动。

本实用新型的有益效果为:进行两电极电弧位置测试,计算出实际电弧位置与中心线之间的偏差,调整CMOS图像传感器在显示器中显示窗口起始位置,保证电弧位置在显示器画面的中心位置。进行光纤熔接时,推进部分将光纤端面推进到显示器画面的中心位置,也就是电弧中心位置,这样就实现了电弧位置的精确调整。电弧调整装置的优点是控制精度高达0.6μm,调节速度快只需30s左右即可完成一次调整,不需要额外增加零件,节省了成本。

附图说明

图1是本实用新型原理框图。

图2是CMOS图像传感器窗口示意图。

图3是开窗调整前后熔接位置示意图。

具体实施方式

如图1所示。一种放电电弧位置自动调整装置,包括左、右对称设置并分别可滑动的光纤熔接机的光纤夹具6,还包括有ARM9处理器7、CMOS图像传感器2、光纤熔接机的高压放电电路10,CMOS图像传感器2的采集面配置有显微镜1,且CMOS图像传感器2的采集面对准两光纤夹具6之间,CMOS图像传感器2的信号输出端接入ARM9处理器7,高压放电电路10控制端接入ARM9处理器7,高压放电电路10的输出端通过高压电缆9电接入有一对电极8,两电极8分别设置在两光纤夹具6之间且位置相对,ARM9处理器7上还接入有显示器3。

 还包括有步进电机4、凸轮5,步进电机4控制端接入ARM9处理器7,凸轮5与步进电机4传动连接,电机带动凸轮旋转,凸轮的向径不断变化,夹具座紧靠在凸轮上,凸轮向径变化带动夹具座移动。光纤夹具通过螺钉固定在光纤夹具座上,夹具座移动时光纤夹具也同时运动。

如图3所示,进行电弧位置测试,计算出实际电弧位置与中心线之间的偏差,如左偏X个像素。

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