[实用新型]光电探测器参数测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电探测器测试领域，尤其涉及一种光电探测器参数的测试夹具。

背景技术

光电探测器是光通信系统中最基本的接收器件，其参数性能在很大程度上直接决定了整个光通信系统的各项指标，因此常常需要对光电探测器的各个参数进行性能测试。

目前，通常使用专用的测试夹具来测试光电探测器参数性能，图1为现有技术的测试夹具的结构示意图，现有技术的测试夹具包括：金属屏蔽盒11、印制板13和夹持装置23，金属屏蔽盒11包括底盒和上盖，金属屏蔽盒11用于防止外部噪声对待测光电探测器4参数测试造成干扰，其左侧有数据接口15，用于与测试主机进行数据通信；印制板13用于实现待测光电探测器4输出电信号的前级测试；所述夹持装置23位于金属屏蔽盒11右侧，用于夹持待测光电探测器4和耦合对准光输入信号，夹持装置23外侧有光输入接口，用于实现外部光信号的输入，使用时，用顶丝6将待测光电探测器4固定在夹持装置23中，利用电缆5将待测光电探测器4的管脚与印制板13的相应接插件进行连接，安装上盖，即可以进行待测光电探测器4的参数测试。

现有技术中存在如下问题：

1、电缆5与待测光电探测器4管脚之间没有防纠错措施，容易出现连接错误，且在装卸过程中，容易造成待测光电探测器4管脚受力变形；

2、需要借助工具对待测光电探测器4进行安装和更换，操作过程复杂，操作时间长，降低测试效率；

3、一种测试夹具只能应用于一种封装的光电探测器，通用性差。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种光电探测器参数测试夹具，该测试夹具实用性和通用性强，安装和拆卸方便，还可以简化测试步骤，提高测试效率。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种光电探测器参数测试夹具，包括固定部分和活动部分；

固定部分包括金属屏蔽盒和安装在金属屏蔽盒内部的印制板，金属屏蔽盒左侧有数据接口，金属屏蔽盒右侧有连接插座；

活动部分包括印制板、盖板和夹持装置，所述印制板安装在盖板背面，印制板上有连接插头和测试座，所述连接插头与所述连接插座相互配合，盖板上有定位柱和手动螺钉，夹持装置安装在盖板左侧，夹持装置上有光输入接口和手动螺钉；

固定部分靠手动螺钉连接安装在活动部分左侧。

为简要说明问题起见，以下把本实用新型所述光电探测器参数测试夹具均简称为本夹具。

本夹具的印制板用于实现光电探测器输出电信号的前级放大处理；连接插座用于与测试夹具活动部分中的连接插头进行电气连接，连接插座和连接插头均采用统一的接口电气定义，可以实现在不同封装的测试夹具的活动部分之间进行互换；手动螺钉用于手动将测试夹具的固定部分和活动部分进行紧密连接，确保两者之间的插座和插头可靠连接，实现测试夹具的无工具拆卸；定位柱既用于待测光电探测器的安装定位，也用于保证光输入接头旋转插入过程中夹持装置的固定不动，确保待测光电探测器的管脚不受力变形；光输入接口用于实现外部光信号的输入。

本夹具的活动部分为可更换部分，在需要对不同封装光电探测器的参数进行测试时，仅仅更换测试夹具的活动部分，即可适应不同封装光电探测器：首先旋松盖板右侧的两个手动螺钉，将测试夹具的活动部分从测试夹具的固定部分拔出；其次将活动部分更换为针对于另一种封装的活动部分，旋紧盖板右侧的两个手动螺钉将测试夹具活动部分与固定部分进行紧密连接，确保两者之间的插座和插头可靠连接。完成上述操作过程后，即可完成测试夹具活动部分的更换，并进行不同封装光电探测器的参数测试，提高了本夹具的通用性。

本夹具的活动部分放置在固定部分右侧，利用手动螺钉进行拆卸，符合人体操作习惯。

所述金属屏蔽盒包括：底盒和上盖，上盖位于底盒上部，上盖与底盒形成一个密闭的金属屏蔽空间，防止外部噪声对光电探测器参数测试造成干扰，数据接口设在底盒左侧，用于与测试主机进行电气连接，可实现测试夹具和测试主机之间的电源供电、测试控制和数据通信。

所述测试座由绝缘柱体和铜制插针组成，绝缘柱体入口处为锥型结构，起到的导向插入作用，铜制插针为内通孔结构，可以兼容长短不同的光电探测器管脚，铜制插针表面镀制硬金，有效地减少了由于多次插拔导致插针表面氧化所引起的接触不良的问题，提高了测试的可靠性。

盖板正面丝印有光电探测器安装方向标识，所述安装方向标识与夹持装置的外形一致，配合定位柱，可实现光电探测器无差错安装。