[实用新型]一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，属于PE保护膜检测设备技术领域。

背景技术

PE（Polyethylene，聚乙烯）保护膜是一种用来保护易损害表面的薄膜，其目的是阻止受保护基材表面在运输、配送或加工过程当中受到损害或污染，保护膜会一直贴在受保护的基材表面，直到产品送达使用者时才会被撕下来。PE保护膜的质量要求中需要PE保护膜的杂质和晶点越少越好。

现有技术中，在检测PE保护膜卷的质量时，一般都是在自然光下目测PE保护膜卷有无杂质和晶点，光源都是从PE保护膜卷的外部照射，检测效果不佳，无法有效的反映PE保护膜卷有无杂质或晶点。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷而提供一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，可以方便快速的检测PE保护膜卷有无杂质和晶点，更好的观察PE保护膜卷的质量。

实现上述目的的技术方案是：一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，包括三棱柱形支架和LED（Light Emitting Diode，发光二极管）灯带，其中：

所述三棱柱形支架横向设置；

所述三棱柱形支架的三个侧面上都横向安装有所述LED灯带；

所述三棱柱形支架的一端设置一封头，另一端设置一电池盒或插头座，所述电池盒或插头座与所述LED灯带电连接。

上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，其中，所述三棱柱形支架的带电池盒或插头座的一端还设置一开关，所述开关与所述LED灯带电连接，所述开关与所述电池盒或插头座电连接。

上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，其特征在于，所述三棱柱形支架的三个侧面分别设置一透明板，且该透明板位于相应的所述LED灯带的外部。

上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，其特征在于，所述三棱柱形支架的长度大于所述PE保护膜卷的长度；所述三棱柱形支架的每个侧面上的LED灯带的长度大于所述PE保护膜卷的长度。

本实用新型的用于PE保护膜卷的杂质检测装置，PE保护膜卷套接在三棱柱形支架上，LED灯带的灯光从PE保护膜卷的内部渗透出来，可以方便快速的检测PE保护膜卷有无杂质和晶点，更好的观察PE保护膜卷的质量。

附图说明

图1是本实用新型的杂质检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的技术人员能更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。

请参阅图1，本实用新型的实施例，一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置，包括三棱柱形支架1和LED灯带2。三棱柱形支架1横向设置；三棱柱形支架1的三个侧面上都横向安装有LED灯带2；三棱柱形支架1的一端设置一封头11，另一端设置一电池盒或插头座，电池盒或插头座与LED灯带2电连接。三棱柱形支架1的带电池盒或插头座的一端还设置一开关，开关与LED灯带2电连接，且开关与电池盒或插头座电连接。进一步的，三棱柱形支架1的三个侧面分别设置一透明板，且该透明板位于相应的LED灯带2的外部。三棱柱形支架1的长度L1大于待测的PE保护膜卷3的长度L3；三棱柱形支架1的每个侧面上的LED灯带2的长度L2大于待测的PE保护膜卷3的长度L3。

使用本实用新型的杂质检测装置检测PE保护膜卷时，PE保护膜卷3从封头11处套接在三面带LED灯带2的三棱柱形支架1的外部，电池盒内安装干电池作为LED灯带2电源，或插头座插电网电源通电后，再触摸按动开关，使电能转换为光能，LED灯带2便迅速被点亮。LED灯带2的灯光从PE保护膜卷3的内部渗透出来，可以方便快速的检测PE保护膜卷3有无杂质和晶点，更好的观察PE保护膜卷3的质量。

本实用新型的杂质检测装置的工作原理是：LED是一种固态的半导体器件，可以直接把电转化为光。LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来。半导体晶片由三部分组成，一部分是P型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，在这边主要是电子，中间通常是1至5个周期的量子阱。当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子和空穴就会被推向量子阱，在量子阱内电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是LED发光的原理。

以上实施例仅供说明本实用新型之用，而非对本实用新型的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本实用新型的范畴，应由各权利要求所限定。