[实用新型]一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺有效

专利信息
申请号: 201320851241.8 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN203642831U 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 闫列雪;李央;唐张兵;黄桂云 申请(专利权)人: 桂林广陆数字测控股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 量程 陶瓷 铝合金 防磁 显卡
【权利要求书】:

1.一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺主要由左尺框盖板、测量显示组件、尺身、左陶瓷件、右陶瓷件、左尺框、右尺框组成,其特征是:左尺框盖板(1)固定安装在左尺框(9)上,左尺框锁紧螺钉(2)与左尺框(9)侧面螺纹连接,测量显示组件(3)固定安装在右尺框(6)上,右尺框锁紧螺钉(4)与右尺框(6)侧面螺纹连接,右尺框(6)与尺身(5)滑动连接,右陶瓷件(7)粘接在右尺框(6)的测量面部位,左陶瓷件(8)粘接在左尺框(9)的测量面部位,左尺框(9)与尺身(5)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺,其特征是:尺身(5)、右尺框(6)、左尺框(9)采用铝合金材料,并采用整体化学镀镍的工艺方法,使表面硬度达到HV0.25/20450~470;右陶瓷件(7)、左陶瓷件(8)采用硬度HV1000~1500的氧化锆陶瓷材料。

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