[实用新型]一种RFID读写器老化测试辅助装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量电变量技术领域，尤其是一种RFID读写器老化测试辅助装置。

背景技术

RFID读写器老化测试，是指将成品读写器放置到含有水蒸气、高温、低温或高温高湿综合的环境中进行长时间的测试，观察产品的耐湿、耐温度、耐低温或耐高湿高温的性能，以期改进产品设计，使产品符合多种恶劣环境下正常工作的需求。

传统的RFID读写器老化测试，多是用一根串口线一头连接放置到老化箱中的读写器，一头连接到老化箱外PC机的串口上，进行老化测试的时候，保持读写器与PC机进行通信，使用PC机上的上位机软件进行总次数和成功次数的累积。当需要大批量进行读写器老化测试的时候，往往出现串口不够使用而购买大量的昂贵的串口转接线和USB分线器的情况。而且进行这种测试方法时，老化箱内布线混乱，更换读写器往往需要大量的时间。测试过程中，测试人员往往要用纸笔记录下当前的温度和成功率等信息，一旦遭遇断电或者测试人员疏忽等情况，又需重新开始进行老化测试，非常麻烦。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对上述存在的问题，提供一种结构简单、使用便捷及效率高的RFID读写器老化测试辅助装置。

本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型提供一种RFID读写器老化测试辅助装置，包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二，所述继电器控制电源的开关，所述MCU通过串口接口一与老化箱内的读写器进行通信，所述MCU通过温湿度传感器接口与老化箱内的温湿度传感器连接，所述液晶显示器与MCU连接并显示测试信息，所述存储器和扩展存储器与MCU连接并存储测试信息，所述按键对MCU进行测试操作，所述报警器与MCU连接并在在测试完成时启动报警，所述电平转换电路连接在MCU与串口接口二之间进行电平转换，所述串口接口二实现MCU与上位机的通信。

对上述方案进行优选，所述MCU采用 MSP430F149单片机。

对上述方案进行优选，所述温湿度传感器接口为DHT11温湿度传感器接口。

对上述方案进行优选，所述液晶显示器为LCD12864液晶显示器。

对上述方案进行优选，所述存储器和扩展存储器均为AT24C256存储芯片。

对上述方案进行优选，所述电平转换电路采用MAX3232收发器。

对上述方案进行优选，所述串口接口二采用DB9串口接口。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

              1.     本实用新型中与读写器通信的串口接口一定制了一个与读写器兼容的串口通信协议，其每一帧数据的起始帧和结束帧都与读写器的相一致，因此，测试人员无需修改读写器的任何代码即可完成与老化测试辅助系统之间的通信。

              2.     本实用新型中的AT24C256存储芯片可以存储多达256KB的数据，其数据存储形式为32768pageX8bit，即存储空间为32768页，每一页含一个字节的数据，存储内容的形式为“帧头（1个字节）+测试的编号（2个字节）+被测试卡片的UID号（9个字节）+温湿度数据（2个字节）+帧尾（1个字节）”，则一片这样的存储芯片可以存储多达2150的测试数据，这基本上满足了测试测试的需要，多余的存储空间将用来储存测试的总次数、时间和成功率数据。

              3.     测试人员对本实用新型参数设置完成之后，无需进行任何监察和其他操作，只需等待测试结束后利用液晶显示器查询测试结果并进行汇总即可。在突然遭遇断电时，测试人员也无需进行任何操作，本实用新型会在重新上电时自动启动老化箱到上一次的断点处继续测试，完全解放了测试人员。而且这个装置成本低、体积小、安装方便，用户只需要投入很少的资金就可以获得很高的效率。

附图说明

本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1是一种RFID读写器老化测试辅助装置的外部连接结构框图；

图2是一种RFID读写器老化测试辅助装置的内部连接结构框图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

下面结合图1、图2对本实用新型作详细说明。