[实用新型]一种自动化测卡装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测卡装置，具体是涉及一种自动化测卡装置。

背景技术

非接触IC 卡由IC 芯片、感应天线组成，封装在一个标准的PVC 卡片内，芯片及天线无任何外露部分。非接触IC 卡的应用非常广泛，在身份识别、金融、电子货币、公共交通、智能楼宇、小区物业、智能表行业、社会保障等诸多领域都有广泛的应用。检测非接触IC卡能否正常使用的一般方法是人工检测，工人将非接触IC 卡一张一张地放在读写器上检测其能否正常读写，是否有磁性或磁性太弱，这样的方法费时费力，效率低下，也可能出现人为操作的错误，因此我公司于2012年3月28日申请了实用新型专利“一种自动化测卡装置”，专利号ZL201220120955.7，授权公告号 CN202583347U，提高了工作效率和测试产品的准确性，但是该装置只能检测E57卡，主轴电机转动时，很容易划伤或者破坏IC卡完整性，且需要人工计合格卡数量。

发明内容

本实用新型的目的在于克服原自动化测卡装置测卡种类单一、容易划伤卡片、需要人工计合格卡数量的问题，设计了一种自动化测卡装置。

本实用新型的目的通过下述技术方案实现：

一种自动化测卡装置，包括电源供电电路、E57卡检测电路、MF1卡检测电路、装置控制电路，其特征是：

所述电源供电电路采用市电220V供电，分别输出电压9.4V和8.2V给各个功能电路供电。 

所述E57卡检测电路包括微处理器、不合格卡区域检测电路、E57卡读写电路、卡信号检测电路、拨卡电机驱动电路，其中，不合格卡区域检测电路与微处理器接于引脚P1.4；E57卡读写电路中反相器芯片信号接收端与微处理器接于引脚P1.6，信号输出端与微处理器接于引脚P2.0；卡信号检测电路采用霍尔传感器，信号输出端与微处理器接于引脚P1.5；拨卡电机驱动电路中驱动芯片两个控制端分别与微处理器接于引脚P6.4和引脚P6.3。

所述MF1卡测卡电路包括微处理器、不合格卡区域检测电路、MF1卡读写电路、卡信号检测电路、拨卡电机驱动电路，其中，不合格卡区域检测电路与微处理器接于引脚RB5；MF1卡读写电路中读卡芯片片选端、数据输入端、串行时钟端、数据输出端、复位掉电信号端分别与微处理器接于引脚RB0、RB1、RB2、RB3、RC4；卡信号检测电路信号输出端与微处理器接于引脚RB4；拨卡电机驱动电路中驱动芯片两个控制端与微处理器接于引脚RB1和引脚RB0。

所述装置控制电路包括微处理器、不合格区定位电路、报警电路、主轴电机驱动及堵转检测电路、启停/清零按键电路、卡少检测电路、合格卡计数电路、合格卡数量显示电路，其中，不合格区定位电路包括红外接收电路和红外发射电路，红外接收电路信号输出端与微处理器接于引脚P2.3，红外发射电路采用红外发射管；报警电路信号接收端与微处理器接于引脚P1.4；主轴电机驱动及堵转检测电路信号接收端与微处理器接于引脚P6.4，信号输出端与微处理器接于引脚P1.2；启停/清零按键电路采用霍尔传感器，按键 QTKEYQ、QLKEY分别与微处理器接于引脚P1.6、引脚P1.5；卡少检测电路信号输出端与微处理器接于引脚P2.4；合格卡计数电路信号输出端与微处理器接于引脚P2.2；合格卡数量显示电路通过微处理器引脚P2.6-P4.7、P5.0-P5.4和COM0直接驱动段式液晶。 

进一步地，所述E57卡检测电路中，微处理器的型号是MSP430F413IPM，反相器芯片的型号是74HC04D，驱动芯片的型号是BA6208F-E2；所述MF1卡测卡电路中，微处理器的型号是PIC16F723-I/SS，读卡芯片的型号是FM1702SL，驱动芯片的型号是BA6208F-E2；所述装置控制电路中，微处理器的型号是MSP430F413IPM。

本实用新型的有益效果： 

（1）本实用新型能够连续检测非接触IC卡（E57卡和MF1卡），能够检测卡桶是否有卡，单卡是否有磁性、IC卡读写是否合格，根据检测结果自动分捡合格卡和不合格卡，不合格卡定位到不合格卡区域，使测卡功能更加齐全；

（2）本实用新型能够计量并显示合格卡数量、检测卡桶是否卡少，并根据检测结果有报警提示功能，检验步骤实现一体化，实现了更可靠的产品测试；

（3）本实用新型能够自动控制电机启停，当电机发生堵转时，控制器自动切断电机电源，并有报警提示功能，实现了产品安全操作与使用。

附图说明

图1是本实用新型E57卡检测电路的原理框图。