[实用新型]一种激光器LIV高温性能的无损测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及激光器的产品检测领域，更具体的说涉及一种激光器LIV高温性能的无损测试装置。

背景技术

随着光电子技术和信息技术的发展，半导体激光器在光纤通信、信息存储等领域得到了广泛的应用。作为系统的光源，激光器特性的劣势直接影响着系统的性能。因此，在生产和使用过程中，需要精确地测试其LIV特性曲线和相关参数。

由此，市场上开发出了各种激光器二极管LIV测试系统，其可以集微机控制、数据采集、数据处理、图表显示、数据备份导入和数据图表打印功能为一体，且能将测试结果用图表形象直观的显示出来。

但是，由于激光器的应用地域非常广泛，其不可避免会在高温的地域下工作，如此对其高温性能的测试要求也迫在眉睫（特别是急需满足市场上大批量生产测试要求时），但现有系统中并未针对此提供具体的解决方案，着实存在改进的空间。

有鉴于此，本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究，遂有本案产生。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种激光器LIV高温性能的无损测试装置，以解决现有技术无法专门进行高温性能测试的问题。

为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是：

一种激光器LIV高温性能的无损测试装置，其中，包括烤盘、位于烤盘上方的导热支撑架以及装配于导热支撑架内的若干个测试单元，该烤盘产生热量并通过导热支撑架往测试单元中的激光器传递热量以使之达到待测试温度，每一测试单元均具有单独的传导电路板以及分别供激光器管座插置和供电线及其插头插置的激光器插座和供电插座。

进一步，该导热支撑架的测试接触面通过与激光器管座底面直接接触来给激光器迅速传递热量。

进一步，该导热支撑架背面通过设置凸出的支撑筋条来与烤盘表面直接接触。

采用上述结构后，本实用新型涉及的一种激光器LIV高温性能的无损测试装置，在需要对激光器进行LIV高温性能测试时，先将激光器插置入激光器插座，使其管座底面与导热支撑架正面的测试接触面直接接触，调节烤盘温度使之达到待测试的温度，过一段时间后，给每个测试单元分别连接上光纤线和供电线，以对每个激光器进行单独的LIV测试，最后达到批量测试激光器高温性能的功效。

与现有技术相比，本实用新型在对激光器进行高温性能测试时，可使激光器迅速致热，且无需移动激光器，以保证激光器在高温环境下被测试，且测试完毕后激光器在外观上不会受到任何损伤。

附图说明

图1为本实用新型涉及一种激光器LIV高温性能的无损测试装置对激光器进行测试时的整体结构示意图；

图2为本实用新型未做测试及脱离开烤盘时的正面示意图；

图3为本实用新型未做测试及脱离开烤盘时的背面示意图；

图4为本实用新型未装配激光器插座、传导电路板、供电插座时的导热支撑架示意图。

图中：

烤盘             1        激光器              2

光纤线及其插头   3        供电线及其插头      4

测试单元         5        激光器插座          51

供电插座         52       测试接触面          53

传导电路板       54       导热支撑架          6

支撑筋条         7。

具体实施方式

为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。

如图1所示，本实用新型涉及的一种激光器LIV高温性能的无损测试装置，包括烤盘1、位于烤盘1上方的导热支撑架6以及装配于导热支撑架6内的若干个测试单元5；在本实施例中，该若干个测试单元显示的为50个，该烤盘1产生热量并通过导热支撑架6往测试单元5中的激光器2传递热量以使之达到待测试温度，每一测试单元5均具有单独的传导电路板54以及分别供激光器2管座插置和供电线及其插头4插置的激光器插座51和供电插座52。

这样，本实用新型在需要对激光器2进行LIV高温性能测试时，先将激光器2插置入激光器2插座，使其管座底面与导热支撑架6正面的测试接触面53直接接触，调节烤盘1温度使之达到待测试的温度，过一段时间后，给每个测试单元5分别连接上光纤线和供电线，以对每个激光器2进行单独的LIV测试，最后达到批量测试激光器2高温性能的功效。