[实用新型]电子元器件的引脚折弯装置有效

专利信息
申请号: 201320740553.1 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN203649213U 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 黄帝坤;张伟 申请(专利权)人: 武汉华扬通信技术有限公司
主分类号: B21F1/00 分类号: B21F1/00
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 437000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 电子元器件 引脚 折弯 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及折弯装置,尤其涉及一种电子元器件的引脚折弯装置。

背景技术

图1、图2示出了现有技术中一种电子元器件的引脚折弯装置,包括下模5、设置在下模5上的凸肋51及压块100,该装置在进行折弯时将需要折弯的电子元器件7放在下模5上,使其一个引脚71放置于凸肋51上,紧接着用压块100对准凸肋51伸出的引脚71压下,此时引脚71在压力的作用下,沿凸肋51的侧壁方向折弯,折弯一个引脚71后,拿起后并转动电子元器件7,使其他的引脚71支撑于凸肋51上,重复上述动作折弯剩余的引脚71。

该现有技术中折弯方法及折弯装置主要存在的问题是:隔离器或者环形器的引脚在折弯时只能一个个进行折弯,生产效率低。而且每次折弯后,需要调整电子元器件的位置,使待折弯的引脚放置于凸肋上,由于放置原因等问题其尺寸很难保证一致性,良品率较低,而且易刮伤电子元器件。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种折弯效率高、良品率高的电子元器件的引脚折弯装置。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种电子元器件的引脚折弯装置,包括下模及设置在下模上的凸肋,还包括上模及连接上模的升降机构,所述凸肋为多个;所述上模包括基板及设置在基板下部与凸肋相对应的多个压头,所述上模在升降机构带动下降后扣合于下模,所述压头内侧壁与凸肋的外侧壁之间有间隙,该间隙与引脚的厚度相适配。

其中,所述凸肋围成一容置腔,所述电子元器件放置于容置腔内、且引脚支撑在所述凸肋上。

其中,所述下模的底部设置承载座,所述下模外围、承载座上设置有导柱,所述基板上部连接有支架,所述支架套接在所述导柱上、且与导柱滑动配合。

其中,所述支架上设置连接套,所述连接套一端连接所述上模的基板;所述升降机构包括气缸,所述气缸端部连接一连接杆,所述连接杆的端部连接所述连接套。

其中,所述压头的端部为阶梯型。

本实用新型的有益效果是:区别于现有技术,本实用新型在下模上设置多个凸肋,电子元器件放置在多个凸肋之间,放置后的电子元器件的引脚支撑在凸肋上,上模包括基板及设置在基板下部的压头,压头内侧壁与凸肋的外侧壁之间有间隙,上模在升降机构带动下向下运动与下模扣合,而在扣合过程中压头会对引脚施加压力,压头内侧壁与外侧壁之间的留有间隙,该间隙与压脚的厚度相适配,使压脚在压力下沿凸肋的外侧壁折弯。该装置中设置多个压头可对所有引脚一次性折弯成型,提高了工作效率,而且杜绝多次重复放置,保证电子元器件的良品率。

附图说明

图1是现有技术中折弯装置及电子元器件引脚折弯前的结构示意图;

图2是图1中电子元器件引脚折弯后的结构示意图;

图3是本实用新型一优选实施例的整体结构示意图;

图4是本实用新型一优选实施例的立体图;

图5是图4的剖视图;

图6是本实用新型引脚折弯前的局部结构示意图;

图7是本实用新型引脚折弯后的局部结构示意图。

标号说明:

1、承载座;2、导柱;3、支架;4、螺栓;5、下模;51、凸肋;6、上模;61、压头;7、电子元器件;71、引脚;8、连接套;9、开关;10、气缸;11、气管;12、连接杆;100、压块。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。

参阅图3-7,一种电子元器件的引脚折弯装置,包括下模5及设置在下模5上的凸肋51,还包括上模6及连接上模6的升降机构,该凸肋51为多个;该上模6包括基板及设置在基板下部与凸肋51相对应的多个压头61,上模6在升降机构带动下降后压头61扣合于下模5,所述且压头61内侧壁与凸肋51的外侧壁之间有间隙,该间隙与引脚71的厚度相适配。

在下模5上设置多个凸肋51,电子元器件7放置在凸肋51之间,放置后的电子元器件的引脚71支撑在凸肋51上,上模6包括基板及设置在基板下部的压头61,压头61内侧壁与凸肋51的外侧壁之间有间隙,上模6在升降机构带动下向下运动与下模5扣合,而在扣合过程中压头61会对引脚71施加压力,压头61内侧壁与凸肋51外侧壁之间的留有间隙,该间隙与引脚71的厚度相适配,使引脚71在压力下沿凸肋51的外侧壁折弯。该装置设置多个压头61可对所有引脚71一次性折弯成型,提高了工作效率,而且杜绝多次重复放置,影响电子元器件7的良品率。

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