[实用新型]手持数字集成电路参数测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集成电路参数测试仪，特别是一种手持数字集成电路参数测试仪。

背景技术

在进行电子系统的开发设计或相关实践教学中，会使用很多的数字集成电路芯片。很多场合下会重复利用芯片，此时难免会遇到芯片失效的情况。使用了损坏的数字集成电路芯片会极大地增加电路系统的调试难度，而在使用芯片之前，却又无法通过常见的仪器仪表检测芯片的功能是否完好。工程上使用的专业级的集成电路测试仪器功能完善，但同时具有价格昂贵、操作复杂、体积庞大等缺点，难以广泛引入实验室，在广大电子爱好者群体之中无法普及。

公告号为CN202583410的实用新型专利提供一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，提出了使用STC89C516RD+单片机作为控制器的数字集成电路功能测试仪，由单片机、键盘、串行接口、芯片测试接口、中文液晶显示器和报警电路组成。该测试仪的电路设计中，使用两个7805稳压器供电，只能测试适合+5V供电的芯片，无法对使用+3.3V供电的芯片进行测试；而且该测试仪没有集成模拟/数字转换功能，无法检测芯片输出电平的准确电压值。

通常现有的低成本的集成电路功能测试仪大多使用按键与单色液晶屏进行人机接口设计，操作复杂且有欠美观。而且此类测试仪的芯片测试接口设计中，待测芯片的电源供电电路是一大缺陷。为了兼顾管脚数量不同的待测芯片，通常在第14、16、20管脚处设计复杂的电源切换电路，这样便难以兼顾相应编号管脚的检测；另外一些设计忽略了单片机I/O管脚的驱动能力便直接使用单片机的I/O管脚为待测芯片供电，使得仪器工作稳定性欠佳。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种手持数字集成电路参数测试仪，以解决目前数字集成电路芯片测试时测试参数单一、功能不完善、人机接口操作复杂并容易失效、测试成本偏高的缺点。

解决上述技术问题的技术方案是：一种手持数字集成电路参数测试仪，包括电源管理模块、中央控制模块、芯片测试接口、通信模块、人机接口模块组成。

所述的电源管理模块输出端与中央控制模块的电源输入端连接，用于为中央控制模块提供电源；

所述的中央控制模块包括单片机Ⅰ、单片机Ⅱ，所述的单片机Ⅰ与芯片测试接口连接，专门负责芯片检测；所述的单片机Ⅱ分别通过I/O管脚与通信模块、人机接口模块直接连接，负责控制液晶显示、触摸输入与串行通信；所述的单片机Ⅰ、单片机Ⅱ之间直接通过SPI总线进行连接；

所述的通信模块包括串行通信接口芯片及其外围电路，该通信模块的输出端与上位机的输入端连接，用于将单片机Ⅱ的数据传输至上位机。

本实用新型的进一步技术方案是：所述的电源管理模块包括+7.2V锂电池、三端稳压器U2、三端稳压器U3,所述的三端稳压器U2的输入端与+7.2V锂电池串接, 三端稳压器U2输出端通过单刀双掷开关与VCC网络连接，用于提供+5V电源；同时三端稳压器U2的+5V电源输出端与三端稳压器U3的输入端串接，三端稳压器U3的输出端通过单刀双掷开关与VCC网络连接，以便用于提供+3.3V电源。

本实用新型的进一步技术方案是：所述的单片机Ⅰ、单片机Ⅱ采用C8051F410单片机。

本实用新型的进一步技术方案是：所述的芯片测试接口为20脚芯片元件座，该芯片测试接口的19脚接地，其余管脚直接与单片机Ⅰ的I/O管脚连接。

本实用新型的进一步技术方案是：所述的串行通信接口芯片采用MAX3232芯片。

本实用新型的再进一步技术方案是：所述的人机接口模块包括液晶触摸屏。

本实用新型的更进一步技术方案是：所述的液晶触摸屏采用电阻式触摸屏TFT320240液晶显示器。

由于采用上述结构，本实用新型之手持数字集成电路参数测试仪与现有技术相比，具有以下有益效果： 

1．测试参数多样化：

由于本测试仪能够兼容20脚以下双列直插的数字集成电路芯片进行功能验证与参数检测，待测芯片的供电电压允许可选为+3.3V或+5V。在使用了自带多路输入12位ADC器件的C8051F410单片机后，可检测的参数包括输出高电平电压值Voh、输出低电平电压值Vol，该仪器不但能够检测芯片的输出逻辑，还能够检测芯片输出的电压值，其测试参数多样化，从而实现对数字集成电路芯片是否失效提供完整的测试结果。

2．功能完善：