[实用新型]光纤环长度测量及扰动点定位装置有效

专利信息
申请号: 201320678938.X 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN203645676U 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 董翔;罗红星;芮雪 申请(专利权)人: 北京航天易联科技发展有限公司
主分类号: H04B10/075 分类号: H04B10/075;G01S11/12
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光纤 长度 测量 扰动 定位 装置
【权利要求书】:

1.一种光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征在于,所述装置至少包括两个光源发生器、九个光纤耦合器、两个光纤环、相位调制器、以及四个法拉第旋转镜;其中, 

第一光源发生器(51)连接至第一光纤耦合器(1),所述第一光纤耦合器(1)分别与第三光纤耦合器(3)和第四光纤耦合器(4)相耦合;所述第三光纤耦合器(3)与所述第四光纤耦合器(4)相耦合; 

第二光源发生器(52)连接至第二光纤耦合器(2),所述第二光纤耦合器(2)分别与第五光纤耦合器(5)和第六光纤耦合器(6)相耦合;所述第五光纤耦合器(5)与所述第六光纤耦合器(6)相耦合; 

所述第三光纤耦合器(3)和所述第五光纤耦合器(5)分别与第七光纤耦合器(7)相耦合;所述第七光纤耦合器(7)连接第一光纤环(21)后连接第一法拉第旋转镜(31),所述第七光纤耦合器(7)连接第二光纤环(22)后连接第二法拉第旋转镜(32); 

所述第四光纤耦合器(4)和所述第六光纤耦合器(6)分别与第八光纤耦合器(8)相耦合;所述第八光纤耦合器(8)连接至相位调制器(41),所述相位调制器(41)连接第九光纤耦合器(9),所述第九光纤耦合器(9)分别连接至第三法拉第旋转镜(33)和第四法拉第旋转镜(34)。 

2.根据权利要求1所述的光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征在于,所述第四法拉第旋转镜(34)通过第三光纤环(23)连接至所述第九光纤耦合器(9)。 

3.根据权利要求1或2所述的光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征在于,所述相位调制器(41)为压电陶瓷。 

4.根据权利要求1或2所述的光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征 在于,所述第一光纤耦合器(1)和所述第二光纤耦合器(2)均为3×3光纤耦合器;其余七个光纤耦合器均为2×2光纤耦合器。 

5.根据权利要求1或2所述的光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征在于,所述第一光源发生器(51)为1310nm波长SLED光源,所述第二光源发生器(52)为1550nm波长SLED光源;所述第一法拉第旋转镜(31)和所述第三法拉第旋转镜(33)为1310nm法拉第旋转镜,所述第二法拉第旋转镜(32)和所述第四法拉第旋转镜(34)为1550nm法拉第旋转镜。 

6.根据权利要求1或2所述的光纤环长度测量及扰动点定位装置,其特征在于,所述装置内所有元器件通过光纤线熔接,熔接时的损耗小于等于0.03dB。 

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