[实用新型]用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构有效
| 申请号: | 201320677798.4 | 申请日: | 2013-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN203572589U | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
| 发明(设计)人: | 周绍志;崔文德;章洁平;王瑞芳;王立;张波;李春林 | 申请(专利权)人: | 北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号: | G01K7/18 | 分类号: | G01K7/18 |
| 代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 莫丹 |
| 地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 测量 低温 介质 铂电阻 温度传感器 封装 结构 | ||
1.一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其包括传感器壳体(1),在传感器壳体(1)内放置陶瓷铂电阻敏感元件(3)和测量引线(4),传感器壳体(1)端部通过密封胶(5)密封;测量引线(4)的一端连接陶瓷铂电阻敏感元件(3),测量引线(4)的另一端延伸出密封胶(5);其特征在于:所述的测量引线(4)中间部分绕成螺旋状填充于传感器壳体(1)中部内;传感器壳体(1)两端内、且在测量引线(4)的两端采用填充材料(2)填充。
2.根据权利要求1所述的一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其特征在于:所述的传感器壳体(1)壁厚为0.5mm。
3.根据权利要求1所述的一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其特征在于:所述的传感器壳体为1Cr18Ni9Ti材料制成;所述的填充材料为氧化铝。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320677798.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种救生船
- 下一篇:一种底置家用电梯主机和设有该主机的底置卷扬式电梯





