[实用新型]用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构有效

专利信息
申请号: 201320677798.4 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN203572589U 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 周绍志;崔文德;章洁平;王瑞芳;王立;张波;李春林 申请(专利权)人: 北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01K7/18 分类号: G01K7/18
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 莫丹
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 低温 介质 铂电阻 温度传感器 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其包括传感器壳体(1),在传感器壳体(1)内放置陶瓷铂电阻敏感元件(3)和测量引线(4),传感器壳体(1)端部通过密封胶(5)密封;测量引线(4)的一端连接陶瓷铂电阻敏感元件(3),测量引线(4)的另一端延伸出密封胶(5);其特征在于:所述的测量引线(4)中间部分绕成螺旋状填充于传感器壳体(1)中部内;传感器壳体(1)两端内、且在测量引线(4)的两端采用填充材料(2)填充。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其特征在于:所述的传感器壳体(1)壁厚为0.5mm。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量低温介质的铂电阻温度传感器封装结构,其特征在于:所述的传感器壳体为1Cr18Ni9Ti材料制成;所述的填充材料为氧化铝。

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