[实用新型]晶圆升降装置有效
申请号: | 201320672797.0 | 申请日: | 2013-10-29 |
公开(公告)号: | CN203536401U | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 曹伟刚;田华 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/687 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 升降 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体制造领域,尤其涉及一种晶圆升降装置。
背景技术
晶圆在制造过程中,均在反应腔室内进行反应,例如沉积薄膜、刻蚀等。通常反应腔室内包括加热器,用于对反应腔室以及晶圆进行加热,由于加热器表面温度较高,为了保护晶圆,也为了使晶圆的受热更加均匀,通常会在加热器中设有多个孔,每个孔中均安放有顶针(Lift Pin),加热器下方也设有顶针环(Lifter Ring),顶针环下方设有顶针盒(Lift Bellow),所述顶针盒顶住顶针环的一角侧壁通过螺丝相固定,使顶针环能够上下移动,在晶圆放置在加热器上之后,开始进行反应之前,顶针盒顶住顶针环,使顶针环上移,从而顶起顶针,将晶圆顶起,使晶圆与加热器保持一定的距离,进而才开始进行反应。
请参考图1和图2,图1为现有技术中晶圆升降装置的俯视图,图2为晶圆升降装置沿图1虚线方向的剖面示意图,其中,顶针10设于顶针环20上,用于顶起晶圆,所述顶针环20下方一角设有套筒21,顶针盒30设于所述顶针环20的下方,与所述套筒21通过螺丝31相固定,所述顶针盒30能够上下移动,能够带动所述顶针环20上下移动,上移时所述顶针环20能够顶起顶针10,进而顶起晶圆。
由于所述顶针10仅仅是放置于所述顶针环20上,易摇晃,而且所述顶针10的材质为陶瓷,较细,在被顶针环20带动上下移动时,所述顶针10十分容易被折断,并且,所述顶针盒30仅仅与所述套筒21相固定,所述套筒21仅仅位于所述顶针环20的一角,在所述顶针盒30上下移动时,会使所述顶针环20受力不均匀,造成所述顶针环20出现倾斜,此外,由于顶针盒30上下频率较高,易造成螺丝31松动,且所述顶针盒30在所述套筒21中发生水平位移。当发生位移或者螺丝松动时,会导致所述顶针环20出现倾斜更加严重。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶圆升降装置,能够增加稳定性,避免顶针断裂。
为了实现上述目的,本实用新型提出了一种晶圆升降装置,包括:
顶针、顶针环、套筒、支撑件以及顶针盒,其中,所述顶针环的一面通过螺纹固定所述顶针,另一面固定所述套筒和支撑件,所述支撑件与所述套筒相固定,所述顶针盒顶端由所述套筒伸入并与所述顶针环通过螺母相固定。
进一步的,所述顶针盒包括一凹槽与一嵌件,所述嵌件设于所述套筒与所述凹槽之间。
进一步的,所述顶针环和顶针的材质均为陶瓷。
进一步的,所述套筒的材质为陶瓷。
进一步的,所述顶针环和套筒为一体成型。
进一步的,所述支撑件俯视图为L型,侧视图为三角形。
进一步的,所述支撑件的材质为陶瓷。
进一步的,所述顶针环和支撑件为一体成型。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果主要体现在:顶针与顶针环通过螺纹相固定,防止顶针摇晃,从而在顶针环在上下移动时能够避免顶针断裂,支撑件能够提高顶针环上下移动时的稳定性,避免顶针环发生侧偏;由于顶针盒的顶端和顶针环通过螺母固定,不仅能够避免顶针盒松动,还能够防止顶针盒发生水平位移。
附图说明
图1为现有技术中晶圆升降装置的俯视图;
图2为晶圆升降装置沿图1虚线方向的剖面示意图;
图3为本实用新型一实施例中晶圆升降装置的俯视图;
图4为本实用新型一实施例中晶圆升降装置沿图3虚线方向的剖面示意图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本实用新型的晶圆升降装置进行更详细的描述,其中表示了本实用新型的优选实施例,应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本实用新型,而仍然实现本实用新型的有利效果。因此,下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道,而并不作为对本实用新型的限制。
为了清楚,不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中,不详细描述公知的功能和结构,因为它们会使本实用新型由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中,必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标,例如按照有关系统或有关商业的限制,由一个实施例改变为另一个实施例。另外,应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的,但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。
在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本实用新型。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造